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TCSPC為時域FLIM金標準,相量分析可處理<100光子低計數場景

作者:東譜科技 瀏覽: 發表時間:2026-07-02 15:33:45

TCSPC為時域FLIM金標準,相量分析可處理<100光子低計數場景

1 背景與問題

熒光成像已成為研究細胞結構和功能的不可或缺的手段。然而,傳統的基於強度的熒光成像方法容易受到光譜串擾、探針濃度、光源強度波動以及光漂白的影響,導緻定量分析困難。

為了解決這些問題,熒光壽命成像顯微鏡(FLIM)應運而生。熒光壽命是熒光團激發態動力學的獨特“指紋”,它不依賴於熒光強度,因此能夠提供關於分子微環境、蛋白質相互作用及代謝狀態的精準信息。盡管FLIM技術潛力巨大,但在實際應用中仍面臨諸多挑戰,例如光子效率低、探針靈敏度不足以及在活細胞環境中實現高速成像的困難。此外,為了實現多靶標同時成像和超分辨觀測,對激發光源的穩定性、脈衝寬度以及特定波長(如深紫外)覆蓋範圍提出了極高的要求。

2 核心方案

本綜述文章詳細探討了FLIM技術的最新進展,重點分析了時域(tdFLIM)和頻域(fdFLIM)兩種核心技術。

在時域FLIM中,時間相關單光子計數(TCSPC)被認為是金標準方法。該方法通過記錄脈衝激光激發後光子的到達時間,構建熒光衰減曲線。文章指出,TCSPC結合激光掃描共焦系統,能夠提供卓越的對比度、高靈敏度以及無標記成像能力,已在臨床和基礎生物學研究中展現出巨大潛力。

此外,文章還重點介紹了相量分析方法。與傳統的指數擬合相比,相量方法提供了一種快速且無需模型的替代方案,特別適用於處理多指數衰減和低光子計數(<100光子)的情況,極大地提高了數據分析的效率和魯棒性。

圖1.FLIM原理。時間域(td)和頻率域(fd)模式下熒光壽命數據采集與分析的示意圖。在tdFLIM中,每次脈衝激發後記錄光子到達時間,以構建衰減直方圖,該直方圖可通過多指數曲線擬合進行分析,或轉換至相量空間以實現無模型壽命提取。在fdFLIM通過高頻強度調製測量發射信號,從而獲得相位偏移和解調因子,這些因子同樣可通過擬合或相量分析進行處理。

3 實驗結果與分析

文章通過大量實驗數據展示了FLIM在多色成像和生物傳感中的應用能力。

3.1 熒光蛋白的壽命特征
研究者彙總了不同光譜範圍內的熒光蛋白(FP)的壽命特征。如下表所示,通過工程化改造,熒光蛋白的壽命範圍得到了顯著擴展,這為在同一光譜窗口內利用壽命差異進行多靶標區分提供了基礎。

3.2 定量生物傳感
FLIM被廣泛用於測量FRET效率以及環境敏感參數(如pH、Ca2+濃度、NADH狀態)。文章指出,盡管FLIM生物傳感器具有不受探針濃度和光漂白影響的優點,但其動態範圍通常受限(<500 ps變化)。為了分辨這些細微變化,系統需要極高的時間分辨率和光子計數精度。在典型的光子預算(10^4-10^5光子/像素)下,壽命精度被限製在約100–300 ps。

圖2 FLIM生物傳感器。環境傳感FLIM生物傳感器的示意圖(不包括FLIM-FRET)。這些生物傳感器可監測活細胞中的多種細胞參數,包括:1.細胞周期狀態;2.分子擁擠程度;3.細胞膜電位;4.溫度;5.氧化還原狀態(遊離與蛋白質結合的NADH);6.蛋白質活性;7.離子濃度(如Ca²⁺、H⁺)

3.3 超分辨與多模態集成
文章還探討了FLIM與超分辨技術(如STED、SMLM)的結合。例如,FLIM-STED理論上可以通過壽命差異實現多達8個不同靶標的成像,克服傳統多色STED成像中染料漂白和光毒性大的問題。

4 產品介紹

PLED

皮秒脈衝二極管激光源

PLED是一款280 nm深紫外皮秒半導體光源,用於熒光壽命和時間分辨光譜實驗中的深紫外激發。其主要用於以緊湊、易集成的方式覆蓋常規可見光皮秒光源難以滿足的波長範圍。適用於寬帶隙材料、紫外發光材料、分子躍遷和現有壽命系統擴展。深紫外激發對於寬禁帶材料、紫外發光材料、特定分子躍遷和生物熒光研究具有重要價值,但可用皮秒光源相對有限。PLED以280 nm脈衝輸出擴展TCSPC與時間分辨光譜能力,適合現有壽命系統升級。

4.1 技術特點

(1) 采用皮秒半導體光源架構,可作為TCSPC壽命測量和時間分辨熒光光譜的激發端;

(2) 脈寬達到≤200 ps,重複頻率覆蓋單次觸發至40 MHz,具備穩定外觸發和光纖耦合選件,12 h功率穩定度達到3% RMS級;

(3) 支持與Oriental Spectra、Edinburgh Instruments、HORIBA及PTI等光譜平台配套;

(4) 工作溫度覆蓋-10℃至45℃,存儲溫度覆蓋-25℃至70℃,適合實驗室日常運行與集成。

4.2 產品優勢

(1) 紫外波長可直接激發寬帶隙材料、紫外發光體系及特定分子躍遷,建立明確應用差異;

(2) 相較大型倍頻激光方案,半導體光源更緊湊、維護量低,便於集成到現有壽命系統;

(3) 多品牌光譜儀兼容性使其適合作為深紫外壽命能力擴展模塊,降低整機替換需求;

(4) 深紫外皮秒光源選擇較少,PLED能夠以較低部署複雜度補充寬帶隙與深紫外激發能力。

綜上所述,TCSPC結合相量分析法,在低光子計數(<100光子/像素)場景下仍能穩健提取壽命參數。東譜科技Pina系列皮秒激光器提供375-1550nm多波長、≤200 ps脈寬及80 MHz重複頻率,兼容主流時間分辨系統。PLED 280nm深紫外光源可擴展寬帶隙材料研究波長能力。配合HiLight的TCSPC模塊,可為FLIM數據分析與硬件升級提供全鏈路支持。東譜科技緻力於以高性能光源推動FLIM技術應用。

原文參考:Emerging trends of fluorescence lifetime imaging microscopy (FLIM): advances, challenges, and prospects

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