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多功能光電器件測試儀 UltraTran

多功能光電測試儀UltraTran（含深能級瞬態譜儀）用於測試光電器件的特性，如阻抗譜、深能級瞬態譜燈。DLTS功能主要用於測試半導體材料器件深能級瞬態譜DLTS。評估半導體深能級陷阱的濃度和熱發射率。

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產品關鍵詞：深能級瞬態譜儀、深能級能譜儀、多功能載流子特性分析系統、半導體參數測試、載流子特性分析系統、強度調製光電流譜、強度調製光電壓譜、DLTS 、線性增壓測試、線性增壓載流子抽取、阻抗譜分析儀、電容電壓測試


Product Keywords: Deep level transient Spectrometer, deep level energy spectrometer, multi-function carrier characteristic analysis system, semiconductor parameter testing, carrier characteristic analysis system, intensity modulated photocurrent spectrum, intensity modulated photovoltage spectrum, DLTS, linear boost test, linear boost carrier Extraction, impedance spectrum analyzer, capacitor voltage test


產品簡介

UltraTran是一款集成了多種光電測試功能的儀器設備，專門針對半導體材料和器件的電學與光電特性進行精確測量，尤其適用於發光（OLED、PeLED等）與光伏器件（OPV、晶矽PV、異質結疊層PV等），該設備核心功能包括：

1）斜坡電壓電流測試（Ramp-IV）、階梯電壓電流測試（Step- IV）和脈衝電壓電流測試（Pulse-IV）。這些測試模式使得用戶能夠以不同的電學激勵方式對樣品進行掃描，從而獲得關於樣品在不同激勵下的電學性質。Ramp-IV以連續的方式提供電壓掃描，適用於捕捉材料響應的連貫變化；Step-IV則以逐步階梯的方式提供電壓，適合觀察材料在不同電壓階躍下的穩態行為；而Pulse-IV通過短時的電壓脈衝，允許研究器件的動力學IV特性，也可以有效減少器件的熱阻，增加器件的最大注入電流。

2）UltraTran還提供了開關瞬態光電流（on-off TPC）和開關瞬態光電壓（on-off TPV）測試，這些功能適合於研究材料在光照激發下的上升和下降過程【瞬態光電流/光電壓/光電荷測試參考我司TranPVC產品】。

3）暗注入瞬態特性測試（DIT）和深能級瞬態譜（DLTS）是可以用於探測和分析半導體中的陷阱和缺陷狀態。DLTS技術尤為擅長於識別和量化材料中的微小缺陷濃度，為改善半導體材料質量提供關鍵信息。

4）設備還支持暗態線性增壓電荷抽取測試（Dark-CELIV）和光態線性增壓電荷抽取測試（Photo-CELIV），這兩種模式能夠測定電荷在半導體內的傳輸和複合機製，得到遷移率等參數。

5）等效電荷抽取測試（CE），可以研究器件的電荷濃度。

6）阻抗譜測試（IS）、電容電壓測試（CV）等功能則為設備增加了額外的維度，使其能夠全面評估材料的阻抗和介電性能。

7）強度調製光電流譜（IMPS）和強度調製光電壓譜（IMVS）為研究者提供了一種獨特的方法來探究材料對光強變化的頻率響應，這對於光伏材料和應用尤為重要。

8）電緻發射譜（ELS）為研究材料的電緻發光特性，得到光譜、色坐標等參數。

產品特點

□ 國內首款集成化測試設備，集成超16種光電測試功能，同時適用電光轉換和光電轉換器件，如發光（OLED、PeLED等）與光伏器件（OPV、晶矽PV、異質結疊層PV等）；

□ 可以適用於手套箱等場景測試；

□ 可以靈活耦合變溫恒溫器進行變溫測試；

□ IV、TPV、TPC、DIT、DLTS、CELIV、CE、IS、CV、IMPS、IMPV、ELS。


測試功能

□ I-V測試；

□ ON/OFF TPV/TPC測試；

□ 電荷抽取測試CE；

□ 線性增壓載流子測試CELIV；

□ 脈衝電壓測試；

□ 阻抗譜IS；

□ 瞬態電緻測試TranEL；

□ 深能級瞬態光譜DLTS；

□ 強度調製光電流譜/光電壓譜IMPS/IMPV；

□ 調製電緻發光光譜MES。


產品應用

□ 半導體：有機半導體、金屬-有機框架、共價有機框、鈣鈦礦材料、二維材料、元素半導體（Si、Ge等）、化合物半導（InGaAs等）、寬帶隙第三代半導體、量子點半導體、其它半導體材料；

□ 光伏材料器件；

□ 發光材料器件；

□ 光催化材料器件。

功能模塊

多功能光電器件測試儀UltraTran
功能是否標配電光轉換器件選配光電轉換器件選配
斜坡電壓電流測試（Ramp-IV）●

階梯電壓電流測試（Step-IV）●

脈衝電壓電流測試（Pulse-IV）●

開關瞬態光電流（on-off TPC）×
●
開關瞬態光電壓（on-off TPV）×
●
暗注入瞬態特性測試（DIT）●

深能級瞬態譜（DLTS）●

暗態線性增壓電荷抽取測試（Dark-CELIV）●

光態線性增壓電荷抽取測試（Photo-CELIV）×●●
電荷抽取測試（CE）×●
阻抗譜測試（IS）●

電容電壓測試（CV）●

強度調製光電流譜（IMPS）×
●
強度調製光電壓譜（IMVS）×
●
電緻發射譜（ELS）×●
性能參數
采樣率250MS/s
時間分辨率5ns
頻率範圍10 mHz to 10 MHz
電壓範圍±12V
電流範圍0~100 mA
最小電流分辨率≤100pA
光電探測模塊波長範圍：350nm-1100nm；上升時間：14ns。
LED光源模塊色溫：6500K；波長範圍：400nm-700nm；
變溫模塊根據需要配置液氮低溫恒溫器、液氦低溫恒溫器等





多功能光電器件測試儀 UltraTran
多功能光電測試儀UltraTran（含深能級瞬態譜儀）用於測試光電器件的特性，如阻抗譜、深能級瞬態譜燈。DLTS功能主要用於測試半導體材料器件深能級瞬態譜DLTS。評估半導體深能級陷阱的濃度和熱發射率。
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