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連續半導體光源 Stea

Stea系列是CW連續半導體光源，具有穩定性好、高輸出功率、可耦合光纖等特點，可用於熒光量子效率、探測器響應、光電導等測試功能，常用於研究熒光粉、染料、有機半導體、鈣鈦礦、量子點等。

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產品簡介

Pina、NanoQ、Mic、Tuna、Stea是東譜科技面向高端光學應用推出的新一代緊湊型半導體光源，它們均包含基於半導體激光器和LED技術的兩個系列。這些產品，從頻域上，覆蓋了紫外–可見–近紅外的寬波段；從脈衝寬度上，覆蓋了皮秒、納秒、微秒、脈寬可調、連續的工作模式。同時，均搭載同步觸發輸出和靈活的外部觸發輸入功能，既可以作為單獨激光模組使用，靈活搭建空間光路，實現客戶個性化的需求；也可以與各種光譜儀和光纖系統進行耦合。Stea系列是CW連續半導體光源，具有穩定性好、高輸出功率、可耦合光纖等特點，可用於熒光量子效 率、探測器響應、光電導等測試功能，常用於研究熒光粉、染料、有機半導體、鈣鈦礦、量子點等。

產品特點

□ 蓋紫外-可見-近紅外波段； 

□ 輸出功率可調；

□可視界面，易於操作； 

□ 體積緊湊； 

□ 光纖耦合；

□ 功率穩定。

□ 提供連續光輸出，可與光譜儀、光纖系統和樣品測試平台耦合；

□ 用於穩態PL、吸收、光電流和響應度等實驗中的激發或照明；

□ 半導體光源便於小型化、外部調製和多波長配置。

技術參數

Stea系列（255-420nm）

型號

中心波長 [λ,nm] 

光譜線寬[Δλ,nm]

平均功率[mW]

Stea255

255

<15

0.05

Stea265A

265

<15

0.05

Stea265B

265

<15

0.02

Stea280

280

<15

0.02

Stea310A

310

<15

0.2

Stea310B

310

<15

5

Stea340A

340

<15

0.12

Stea340B

340

<15

6.5

Stea365A

365

<15

1

Stea365B

365

<15

50

Stea375A

375

<15

2

Stea375B

375

<15

22

Stea395A

395

<15

4

Stea395B

395

<15

50

Stea405A

405

<15

50

Stea405B

405

<15

50

Stea420

420


50

Stea系列（405-1550nm）

型號

中心波長 [λ,nm]

光譜線寬 [Δλ,nm]

平均功率 [mW]

Stea405A

405

<10

10

Stea405B

405

<10

50

Stea450A

450

<10

8

Stea450B

450

<10

50

Stea515

515

<10

3.5

Stea520A

520

<10

2

Stea520B

520

<10

8

Stea635A

635

<10

2.5

Stea635B

635

<10

50

Stea650A

650

<10

10

Stea650B

650

<10

20

Stea660

660

<10

20

Stea680

680

<10

0.9

Stea780A

780

<10

1

Stea780B

780

<10

8

Stea808A

808

<10

5

Stea808B

808

<10

30

Stea820

820

<10

20

Stea830A

830

<10

5

Stea830B

830

<10

21

Stea850A

850

<10

50

Stea850B

850

<10

50

Stea905

905

<10

5

Stea980A

980

<10

20

Stea980B

980

<10

20

Stea1064A

1064

<10

5

Stea1064B

1064

<10

20

Stea1490

1495

<10

0.5

Stea1550

1550

<10

0.5

功率等級

Class 3

供電

電壓：15V,電流：1.2A

聯鎖輸入

SMA

鑰匙開關

有

底部裝配孔

M6*1, M4*2

工作溫度

0~60℃

冷卻

自然冷卻

尺寸

整體：150mm 長*75mm 寬*60mm 高圓筒：Ø30mm x 38mm

重量

685g

選配件

1. 符合SMA/FC結構標準的光纖耦合件；

2. 激光器安裝支架；

3. 多功能控製器及電腦軟件；

4. 更多可選配波長請谘詢銷售專員。

*每款產品出廠前都需仔細調教，具體參數以出廠報告為準。


專業名詞解析

連續光源： 連續光源提供時間上連續的光輸出，常用於穩態光譜、PLQY、光電響應和照明測試。其穩定性和波長選擇決定實驗可比性；

功率穩定性： 功率穩定性描述光源輸出隨時間的漂移和波動。長時間掃描和弱信號測量尤其需要記錄功率變化；

光纖耦合： 光纖耦合將光源輸出穩定傳輸到樣品或儀器接口。耦合效率受光斑、數值孔徑、偏振和連接狀態影響；

外部調製： 外部調製通過TTL、模擬信號或機械調製控製光源輸出。它用於鎖相檢測、瞬態響應和同步掃描；

熱管理： 熱管理用於控製光源芯片、驅動器或樣品因光照產生的溫升。溫度變化會改變輸出功率、波長和樣品狀態；

波長準確度： 波長準確度決定設定波長與實際輸出波長的一緻性。光譜響應和激發譜測量需要定期進行波長校準；

光譜帶寬： 光譜帶寬描述輸出光在波長上的寬度。窄帶輸出利於波長選擇性測量，寬帶輸出則適合白光或連續譜應用；

光源校準：光源校準用於確認輸出波長、功率和穩定性。多波長測試和定量光譜分析應記錄校準方法與校準日期。

常見問題

連續半導體光源 Stea是連續半導體光源，用於提供連續光輸出，可與光譜儀、光纖系統和樣品測試平台耦合。理解該設備時，重點關注連續光源、功率穩定性、光纖耦合、外部調製、熱管理等概念。穩態光譜、光電響應和自動化測試平台需要穩定、低維護、易觸發的連續半導體光源。

1. 問：連續半導體光源 Stea是什麼設備，主要解決什麼測試問題？

答：Stea是連續半導體光源，用於穩態光譜、光電響應、量子效率、照明和需要穩定連續激發的實驗。提供連續光輸出，可與光譜儀、光纖系統和樣品測試平台耦合。

2. 問：連續半導體光源 Stea在當前科研熱點中主要關注哪些數據？

答：穩態光譜、光電響應和自動化測試平台需要穩定、低維護、易觸發的連續半導體光源。數據閱讀時建議把連續光源、功率穩定性、光纖耦合與連續光源條件對應起來；若涉及外部調製或熱管理，還應記錄校準狀態、空白/對照結果和采集窗口，便於不同批次結果比較。

3. 問：連續光源在該設備測試中如何定義和使用？

答：連續光源提供時間上連續的光輸出，常用於穩態光譜、PLQY、光電響應和照明測試。其穩定性和波長選擇決定實驗可比性。在連續半導體光源 Stea相關實驗中，該術語通常用於限定測試對象、信號來源或結果判讀邊界，需要與樣品結構、實驗條件和原始記錄一起說明。

4. 問：功率穩定性和光纖耦合會如何影響實驗結果？

答：功率穩定性描述光源輸出隨時間的漂移和波動。長時間掃描和弱信號測量尤其需要記錄功率變化。光纖耦合將光源輸出穩定傳輸到樣品或儀器接口。耦合效率受光斑、數值孔徑、偏振和連接狀態影響。兩者共同影響結果判讀，不能隻比較最終數值。

5. 問：開展連續半導體光源測試前，哪些條件必須提前確認？

答：應確認樣品形態、目標變量、環境條件、連接或耦合方式、校準記錄和數據輸出格式。對於連續半導體光源 Stea，還需重點核對外部調製、熱管理以及儀器狀態是否穩定。

6. 問：如何提高連續半導體光源 Stea數據的重複性？

答：建議固定樣品製備批次、裝樣方式、光路或電學連接、采集參數和數據處理流程；同時保留空白、對照和重複測量結果，避免隻用單次數據支撐結論。

7. 問：外部調製相關結果為什麼容易誤判？

答：外部調製通過TTL、模擬信號或機械調製控製光源輸出。它用於鎖相檢測、瞬態響應和同步掃描。誤判常來自本底信號、環境漂移、連接狀態、模型假設或樣品狀態變化，應通過空白測試、條件反轉和重複采集排查。

8. 問：圍繞熱管理，怎樣設計更容易複核的實驗？

答：先固定連續光源相關基礎條件，再隻改變一個目標變量；若結果依賴模型，應報告模型假設、擬合殘差和參數不確定度。

9. 問：研究人員解讀連續半導體光源 Stea結果時，如何避免過度結論？

答：應先確認測試條件是否滿足方法假設，再結合波長準確度、光譜帶寬和獨立表征交叉判斷。單一數值、單張圖或一次測試不足以支持完整機理結論。

10. 問：科研用戶閱讀連續半導體光源 Stea相關數據時，應優先關注哪些信息？

答：應優先關注連續光源、穩態激發、連續光源、功率穩定性和光纖耦合對應的測試條件、原始信號、校準方式和誤差來源。隻有這些信息完整，數據才便於複核和比較。

產品關鍵詞：熒光量子效率,光電流/光電壓,光電導,熒光發射光譜,光催化,激發譜,光探測,空間光路搭建,連續半導體光源,連續半導體光源 Stea,Stea,連續光源,穩態激發,光纖耦合,功率穩定,功率穩定性,外部調製,熱管理,波長準確度,光譜帶寬,光源校準,Stea測試原理,Stea常見問題,Stea數據分析

連續半導體光源 Stea
Stea系列是CW連續半導體光源，具有穩定性好、高輸出功率、可耦合光纖等特點，可用於熒光量子效率、探測器響應、光電導等測試功能，常用於研究熒光粉、染料、有機半導體、鈣鈦礦、量子點等。
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