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多通道電緻發光特性測量系統 EL-Lab

利用該系統組件的分布特性，可以靈活搭建適用於不同類型器件的測量系統。該系統可以便捷地擴展測量通道數量，且可以為不同的測試通道配備相同或者差異的測試功能，從而可以適應豐富的測量場景，如批量測量、手套箱測量、變溫測量、老化測量等。

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產品簡介

多通道電緻發光特性測量系統EL-Lab是一款多通道電緻發光器件測試與壽命分析平台，用於同步監測OLED、LED及新型發光器件的電學、亮度和衰減特性。系統主要用於提高器件配方、封裝和驅動條件的並行篩選效率。該設備是東譜科技 HiOE 綜合發光特性測量平台中的重要成員，與東譜科技的絕對法電緻發光特性測量系統 HiYield 共同為行業提供了完善的電緻發光的測量方案。該系統由一系列相應的分布測量組件組成，包括光電測量模塊、亮度校準模塊、光譜測量模塊等。利用該系統組件的分布特性，可以靈活搭建適用於不同類型器件的測量系統。該系統可以便捷地擴展測量通道數量，且可以為不同的測試通道配備相同或者差異的測試功能，從而可以適應豐富的測量場景，如批量測量、手套箱測量、變溫測量、老化測量等。

 產品特點

□ 多通道批量測量；

□ 便捷擴展測量通道數量；支持不同的測試通道配備相同或者差異的測試功能；獨立控溫、一體式控溫；軟件選擇快速判斷待測器件IV特性；恒流、恒壓、恒功率、恒EQE、恒亮度等多種老化模式；

□ 測試功能（IV、IVL、 IVλ ）；

□ V-t、I-t、L-t、J-t、W-t、PE-t、EQE-t、CE-t、PEt、CIE-t、λ-t、CCT-t、CRI-t、RGB-t等；

□ 可放進手套箱內測試；

□ 支持長時間的多個器件的老化測試；

□ 支持寬溫度範圍的變溫測試；

□ 全面的電緻發光測量參數；

□ 采用多通道並行測量架構，可對多個發光器件同步開展電學、亮度和穩定性測試；

□ 光電測量模塊響應波長覆蓋350-1100 nm，可覆蓋可見光及近紅外發光器件；

□ 亮度測試範圍覆蓋50-20000 cd/m2，並具備1 mV級電壓測量分辨率；

□ 將器件驅動、光電檢測和長期數據記錄集成，支持器件老化與性能衰減分析。

關於測試通道：可靈活定製不同數量的測試通道和功能，如：

■ 總測試通道：6 個

■ IVL 測試通道：5 個

■ 光譜測試通道：1 個

■ 老化（穩定性）測試通道：5 個

■ 變溫測試通道：選配

產品功能

□ 發光效率參數：外量子效率、電流效率、功率效率等；

□ 電學參數：電壓（V）、電流（I）、電流密度（J）、電功率密度等；

□ 輻射度學參數： 光譜功率分布、輻射通量、光視效能、主波長等 ；

□ 光度學參數：亮度、光通量等；

□ 色度學參數： CIE 色度坐標、相關色溫（CCT）、MK-1、顯色指數等 ；

□ 器件老化參數：不同老化時間下的上述參數；

□ 變溫測量等。

規格參數

光電測量模塊

光譜測試模塊

波長範圍

350-1100 nm

波長範圍

200-1100 nm

峰值波長

970 nm

積分時間

3.8 ms – 10 s

靈敏度 

0.725 A/W

動態範圍

3.4 x 10 ^6 (system); 1300:1 for a single acquisition

有源面積

100 mm^2

雜散光

<0.05% at 600 nm; <0.10% at 435 nm

上升/下降時間

65 ns(632 nm, RL=50Ω, 5V)

光學分辨率

~1.5 nm(FWHM)

噪聲等效功率

2.07x10-13 W/√Hz（970 nm, 5 V）

源表

暗電流

600 nA (Max. 5V)

參數

電壓範圍-20 V~20 V；電流範圍-120 mA~120 mA；

分辨率 100 pA/0.1 mV

結電容 

375 pF (Typ. 5V)

產品應用

□ 量子點發光二極管（QLED）；

□ 有機發光二極管（OLED）；

□ 發光二極管（LED）；

□ 鈣鈦礦發光二極管（PeLED）；

□ 其它各種類型的電緻發光器件。

專業名詞解析

IVL測試： IVL測試同步記錄發光器件的電流、電壓和亮度關系，用於分析開啟電壓、亮度增長、效率和工作狀態。器件有效面積、光學收集方式和驅動模式會影響結果；

LT50壽命： LT50通常表示發光器件亮度衰減到初始亮度50%所需的時間。壽命比較必須統一初始亮度、驅動模式、環境、器件面積和壽命外推方法；

效率滾降： 效率滾降是發光器件效率在高電流密度或高亮度下下降的現象。其成因可能涉及激子湮滅、電荷失衡、漏電和熱效應，需要結合電學、光譜和瞬態數據判斷；

多通道一緻性： 多通道一緻性描述不同測試通道在相同輸入條件下的測量差異。長期老化實驗需定期核對電流、電壓、亮度和溫度通道，避免把通道漂移誤判為器件衰減；

恒流與恒壓老化： 恒流老化固定器件電流，恒壓老化固定器件電壓，兩種方式對應不同的工作應力。選擇驅動模式時應與實際應用場景和失效機理研究目標一緻。

常見問題

EL-Lab是一款多通道電緻發光器件測試與壽命分析平台，用於同步監測OLED、LED及新型發光器件的電學、亮度和衰減特性。理解EL-Lab時，重點關注IVL測試、LT50壽命、效率滾降、多通道一緻性和恒流與恒壓老化。OLED、QLED和PeLED的衰減速度與驅動電流和初始亮度強相關。隻有在一緻驅動模式、初始亮度、器件面積和環境下，LT50等壽命指標才可比較。

1. 問：EL-Lab是什麼設備，核心測量或功能是什麼？

答：EL-Lab是一款多通道電緻發光器件測試與壽命分析平台，用於同步監測OLED、LED及新型發光器件的電學、亮度和衰減特性。采用多通道並行測量架構，可對多個發光器件同步開展電學、亮度和穩定性測試。開展實驗前，應先明確希望比較的指標、工作條件和數據輸出，再據此設計EL-Lab的測量流程。

2. 問：IVL測試是什麼？

答：IVL測試同步記錄發光器件的電流、電壓和亮度關系，用於分析開啟電壓、亮度增長、效率和工作狀態。器件有效面積、光學收集方式和驅動模式會影響結果。

3. 問：如何正確理解LT50壽命，常見誤區是什麼？

答：LT50通常表示發光器件亮度衰減到初始亮度50%所需的時間。壽命比較必須統一初始亮度、驅動模式、環境、器件面積和壽命外推方法。常見誤區是隻比較最終數值，卻忽略測試條件、校準狀態或樣品差異。使用EL-Lab進行跨樣品比較時，應保證關鍵條件一緻並報告不確定度。

4. 問：發光器件壽命研究為什麼必須統一初始亮度？

答：OLED、QLED和PeLED的衰減速度與驅動電流和初始亮度強相關。隻有在一緻驅動模式、初始亮度、器件面積和環境下，LT50等壽命指標才可比較。

5.問：EL-Lab測試中，哪些實驗條件最影響結果？

答：壽命比較需統一驅動模式、初始亮度、器件面積和環境條件。還應記錄與LT50壽命和多通道一緻性相關的設置，因為這些條件可能改變信號幅值、時間尺度、空間分布或計算結果。缺少條件記錄時，即使曲線外觀相似，也不宜直接比較。

6. 問：如何提高EL-Lab數據的重複性和跨樣品可比性？

答：多通道測試應定期核對通道間電學與亮度一緻性。建議設置空白、標準樣品或重複樣品，固定采集設置、校準方式和數據處理流程，並保留原始數據與完整元數據。批量測試還應監測系統隨時間的漂移。

7. 問：針對效率滾降，怎樣設計一組更容易複核的實驗？

答：先固定樣品製備和EL-Lab的基礎采集條件，再隻改變一個目標變量；隨後進行重複測量、條件反轉或對照實驗，並檢查原始數據是否支持同一趨勢。若效率滾降的解釋依賴模型，應同時報告模型假設、擬合殘差和參數不確定度。

8. 問：多通道一緻性為什麼容易造成誤判？如何排查？

答：多通道一緻性描述不同測試通道在相同輸入條件下的測量差異。長期老化實驗需定期核對電流、電壓、亮度和溫度通道，避免把通道漂移誤判為器件衰減。排查時可從儀器校準、背景與空白、信號強度依賴、時間或空間重複性四個方面入手。隻有誤差來源被控製後，EL-Lab結果才適合用於機理討論。

9. 問：恒流與恒壓老化與當前研究熱點有什麼關系？

答：恒流老化固定器件電流，恒壓老化固定器件電壓，兩種方式對應不同的工作應力。選擇驅動模式時應與實際應用場景和失效機理研究目標一緻。該問題連接EL-Lab測量與當前科研中的性能比較、過程追蹤或可靠性評價。報告結果時，應給出明確實驗條件和判斷邊界，避免把相關性寫成因果關系。

10. 問：研究人員解讀EL-Lab結果時，如何避免過度結論？

答：應先確認測試條件與方法假設，再結合效率滾降、多通道一緻性及獨立表征交叉判斷。單一數值、單張圖譜或一次測試通常不足以支持完整機理結論；重複實驗、對照組和原始數據質量比結論措辭更重要。

產品關鍵詞：多通道電緻器件穩定性測試、多通道電緻器件壽命測試、多通道電緻器件老化 、器件壽命測試、電緻發光器件老化系統、OLED壽命測試系統、多通道OLED器件壽命測試系統、多通道發光器件穩定性測量儀、多通道老化測試系統、多通道OLED穩定性測試系統、有機發光二極管(OLED)壽命測量系統

Product Keywords: Multi-channel electroinduced device stability test, multi-channel electroinduced device life Test, multi-channel electroinduced device aging, device life test, electroluminescent device aging system, OLED lifetime test system, multi-channel OLED device life Test system, multi-channel light-emitting device stability measuring instrument, multi-channel aging test system, multi-channel OLED stability test system Organic light-emitting diode (OLED) life measurement system

多通道電緻發光特性測量系統 EL-Lab
利用該系統組件的分布特性，可以靈活搭建適用於不同類型器件的測量系統。該系統可以便捷地擴展測量通道數量，且可以為不同的測試通道配備相同或者差異的測試功能，從而可以適應豐富的測量場景，如批量測量、手套箱測量、變溫測量、老化測量等。
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