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多通道電緻發光特性測量系統 EL-Lab

利用該系統組件的分布特性,可以靈活搭建適用於不同類型器件的測量系統。該系統可以便捷地擴展測量通道數量,且可以為不同的測試通道配備相同或者差異的測試功能,從而可以適應豐富的測量場景,如批量測量、手套箱測量、變溫測量、老化測量等。

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產品關鍵詞:多通道電緻器件穩定性測試、多通道電緻器件壽命測試、多通道電緻器件老化 、器件壽命測試、電緻發光器件老化系統、OLED壽命測試系統、多通道OLED器件壽命測試系統、多通道發光器件穩定性測量儀、多通道老化測試系統、多通道OLED穩定性測試系統、有機發光二極管(OLED)壽命測量系統


Product Keywords: Multi-channel electroinduced device stability test, multi-channel electroinduced device life Test, multi-channel electroinduced device aging, device life test, electroluminescent device aging system, OLED lifetime test system, multi-channel OLED device life Test system, multi-channel light-emitting device stability measuring instrument, multi-channel aging test system, multi-channel OLED stability test system Organic light-emitting diode (OLED) life measurement system


產品簡介

多通道電緻發光特性測量系統EL-Lab是東譜科技 HiOE 綜合發光特性測量平台中的重要成員,與東譜科技的絕對法電緻發光特性測量系統 HiYield 共同為行業提供了完善的電緻發光的測量方案。該系統由一系列相應的分布測量組件組成,包括光電測量模塊、亮度校準模塊、光譜測量模塊等。利用該系統組件的分布特性,可以靈活搭建適用於不同類型器件的測量系統。該系統可以便捷地擴展測量通道數量,且可以為不同的測試通道配備相同或者差異的測試功能,從而可以適應豐富的測量場景,如批量測量、手套箱測量、變溫測量、老化測量等。

 產品特點

□ 多通道批量測量;

□ 便捷擴展測量通道數量;支持不同的測試通道配備相同或者差異的測試功能;獨立控溫、一體式控溫;軟件選擇快速判斷待測器件IV特性;恒流、恒壓、恒功率、恒EQE、恒亮度等多種老化模式;

□ 測試功能(IV、IVL、 IVλ );

□ V-t、I-t、L-t、J-t、W-t、PE-t、EQE-t、CE-t、PEt、CIE-t、λ-t、CCT-t、CRI-t、RGB-t等;

□ 可放進手套箱內測試;

□ 支持長時間的多個器件的老化測試;

□ 支持寬溫度範圍的變溫測試;

□ 全面的電緻發光測量參數。

關於測試通道:可靈活定製不同數量的測試通道和功能,如:

■ 總測試通道:6 個

■ IVL 測試通道:5 個

■ 光譜測試通道:1 個

■ 老化(穩定性)測試通道:5 個

■ 變溫測試通道:選配

產品功能

□ 發光效率參數:外量子效率、電流效率、功率效率等;

□ 電學參數:電壓(V)、電流(I)、電流密度(J)、電功率密度等;

□ 輻射度學參數: 光譜功率分布、輻射通量、光視效能、主波長等 ;

□ 光度學參數:亮度、光通量等;

□ 色度學參數: CIE 色度坐標、相關色溫(CCT)、MK-1、顯色指數等 ;

□ 器件老化參數:不同老化時間下的上述參數;

□ 變溫測量等。

規格參數

光電測量模塊光譜測試模塊
波長範圍350-1100 nm波長範圍200-1100 nm
峰值波長970 nm積分時間3.8 ms – 10 s
靈敏度 0.725 A/W動態範圍3.4 x 10 ^6 (system); 1300:1 for a single acquisition
有源面積100 mm^2雜散光<0.05% at 600 nm; <0.10% at 435 nm
上升/下降時間65 ns(632 nm, RL=50Ω, 5V)光學分辨率~1.5 nm(FWHM)
噪聲等效功率2.07x10-13 W/√Hz(970 nm, 5 V)源表
暗電流600 nA (Max. 5V)參數

電壓範圍-20 V~20 V;電流範圍-120 mA~120 mA;

分辨率 100 pA/0.1 mV

結電容 375 pF (Typ. 5V)




產品應用

□ 量子點發光二極管(QLED);

□ 有機發光二極管(OLED);

□ 發光二極管(LED);

□ 鈣鈦礦發光二極管(PeLED);

□ 其它各種類型的電緻發光器件。




多通道電緻發光特性測量系統 EL-Lab
利用該系統組件的分布特性,可以靈活搭建適用於不同類型器件的測量系統。該系統可以便捷地擴展測量通道數量,且可以為不同的測試通道配備相同或者差異的測試功能,從而可以適應豐富的測量場景,如批量測量、手套箱測量、變溫測量、老化測量等。
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