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推薦設備

光電一體化時間分辨光譜儀 HiLight 990

光電一體化時間分辨光譜儀,又稱光緻/電緻/穩態/瞬態/時間分辨熒光光譜儀。該設備擁有光緻和電緻熒光光譜模塊,可以對各類型的光緻(熒光、磷光、延遲熒光等)和電緻發光樣品進行全面的穩、瞬態測試分析,可在200 nm 至5500 nm寬波長、2.5 ns至1200 s寬時域範圍上對微弱發光信號進行精準測量。

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產品簡介

光電一體化時間分辨光譜儀HiLight是東譜科技自主研發的業內首款光電一體化時間分辨光譜儀(又稱光緻/電緻穩瞬態/時間分辨熒光光譜儀TRPL),該設備擁有光緻和電緻熒光光譜模塊,可以對各類型的光緻(熒光、磷光、延遲熒光等)和電緻發光樣品進行全面的穩、瞬態測試分析,可在200 nm 至5500 nm、寬波長、2.5 ns至1200 s寬時域範圍上對微弱發光信號進行精準測量。基於其光電一體的獨特優勢,HiLight可同時用於材料與器件的研究,從而極大地拓展了傳統熒光光譜儀的適用範圍。基於模塊化的設計理念,HiLight可以提供靈活的配置方案,以適應多樣化的測試需求,可廣泛應用於材料科學、分析科學、生物醫藥、食品科學、石油化工、地質學、考古、法醫學等領域。

HiLight 990是一款光緻與電緻、穩態與瞬態一體化時間分辨光譜儀,用於關聯發光材料機理和器件工作態研究。系統可完成PL、TRPL、TRES、穩態EL與時間分辨EL測試。

產品特點

□ 模塊化設計,可選配置豐富靈活,易升級維護;

□ 光緻+電緻一體、穩態+瞬態熒光光譜儀,可同時用於材料與器件的研究; 

□ 寬時域時間分辨:2.5 ns至1200 s(時間分辨精度305 fs); 

□ 時間分辨率:最小305fs; 

□ 寬波長範圍可選:200-5500nm(可拓展); 

□ 多種光源、光柵、探測器可選; 

□ 全反射式光路設計,影像校準技術; 

□ 配置SpectraHub軟件,統一控製光源、單色儀、探測器、電學驅動及數據擬合分析,功能豐富;

□ 熒光光譜PL、瞬態熒光光譜TRPL、時間分辨發射光譜TRES、穩態電緻發光光譜、瞬態電緻發光光譜TREL、顯微熒光成像PL mapping、熒光壽命成像FLIM、熒光量子產率等。

產品功能

熒光/磷光

時間分辨發射譜

吸收與透射

電緻熒光/磷光

熒光磷光壽命

量子產率

上轉換熒光

時間分辨電緻發光光譜

變溫熒光

比較熒光

電緻發光響應時間

低溫熒光

時間相關動力學

多維光譜

顯微熒光

規格參數

光譜範圍

激發光譜

標配:200nm-900nm,可選:200nm-2500nm

發射光譜

標配:200nm-900nm,可選:200nm-5500nm

時間範圍

SPC動力學

1 ms~10 h

MCS

10 ns~1200 s

TCSPC

50 ps~100 μs

激發源

穩態

MCS

TCSPC

350W氙燈

脈衝氙燈

Mic-MLD微秒激光器

Mic-MLED微秒LED光源

Pina-PLD皮秒激光器

Pina-PLED皮秒LED光源

NanoQ-NLD納秒激光器

NanoQ-NLED納秒LED光源

皮秒白光光源

納秒OPO可調諧激光器

電緻發光部件

SMU

電壓範圍

±15 V

電流範圍

±40 mA

電壓設置分辨率

10 mV

電流設置分辨率

10 μA

電壓測量分辨率

1 mV

電流測量分辨率

1 μA

瞬態電緻發光驅動源

輸出電壓範圍

-10V~+10V

電壓分辨率

16 bits

信號頻率範圍

10 mHz~10 MHz

驅動電壓信號類型

脈衝、正弦波、三角波、方波等

水拉曼信噪比

>12,000:1;可選配優化信噪比

產品應用

□ 熒光粉

□ 上轉換材料

□ TADF

□ 光伏材料

□ 熒光微球

□ 有機發光材料

□ 熒光探針

□ 天然染料

□ 鑭族稀土元素

□ 碳點

□ 鈣鈦礦材料

□ AIE

□ 二維材料

□ 室溫磷光材料

□ 稀土發光材料

□ 量子點

□ 納米微球

□ 量子棒

□ 合成染料

□ 各類電緻發光器件

產品型號

型號

特點

光電一體化時間分辨光譜儀HiLight 990

 模塊化,可選配置功能;升級與拓展功能強

穩瞬態熒光光譜儀HiLight HS15

 一體機;穩態和瞬態熒光功能

熒光壽命測量儀HiLight T30

 壽命測量功能;可選濾光片分光

瞬態電緻發光光譜儀HiLight E60

瞬態電緻發光功能

熒光光譜儀HiLight S20

穩態和磷光功能

專業名詞解析

穩態熒光: 穩態熒光光譜記錄樣品在持續激發下的平均發射或激發響應,適合分析峰位、譜形和相對強度。它不能直接給出激發態隨時間演化的信息;

時間分辨熒光: 時間分辨熒光記錄脈衝激發後發光隨時間的衰減,用於研究激發態壽命和複合動力學。壽命變化需結合激發條件、發光組分和非輻射過程解釋;

時間相關單光子計數TCSPC: TCSPC記錄單個光子相對於激發脈衝的到達時間,並累積形成衰減曲線。該方法靈敏度高,但需避免計數堆積並正確處理儀器響應函數;

MCS多通道標度: 多通道標度(MCS)按時間通道累積事件,常用於較長壽命、延遲熒光和磷光過程。其適用時間範圍和計數方式與TCSPC不同;

光緻發光與電緻發光: 光緻發光(PL)由光激發產生,電緻發光(EL)由載流子注入產生。對比PL與EL有助於區分材料本征發光、載流子注入和器件結構造成的差異。

常見問題

HiLight 990是一款光緻與電緻、穩態與瞬態一體化時間分辨光譜儀,用於關聯發光材料機理和器件工作態研究。理解HiLight 990時,重點關注穩態熒光、時間分辨熒光、時間相關單光子計數TCSPC、MCS多通道標度和光緻發光與電緻發光。穩態光譜給出平均發光結果,時間分辨數據揭示不同過程的出現和衰減。兩者結合可區分發光組分、能量轉移和非輻射損失。

1. 問:HiLight 990是什麼設備,核心測量或功能是什麼?

答:HiLight 990是一款光緻與電緻、穩態與瞬態一體化時間分辨光譜儀,用於關聯發光材料機理和器件工作態研究。在同一平台集成光緻和電緻發光模塊,支持PL、TRPL、TRES、穩態EL與時間分辨EL測試。開展實驗前,應先明確希望比較的指標、工作條件和數據輸出,再據此設計HiLight 990的測量流程。

2. 問:穩態熒光是什麼?

答:穩態熒光光譜記錄樣品在持續激發下的平均發射或激發響應,適合分析峰位、譜形和相對強度。它不能直接給出激發態隨時間演化的信息。

3. 問:如何正確理解時間分辨熒光,常見誤區是什麼?

答:時間分辨熒光記錄脈衝激發後發光隨時間的衰減,用於研究激發態壽命和複合動力學。壽命變化需結合激發條件、發光組分和非輻射過程解釋。常見誤區是隻比較最終數值,卻忽略測試條件、校準狀態或樣品差異。使用HiLight 990進行跨樣品比較時,應保證關鍵條件一緻並報告不確定度。

4. 問:為什麼發光材料研究需要同時看穩態和時間分辨光譜?

答:穩態光譜給出平均發光結果,時間分辨數據揭示不同過程的出現和衰減。兩者結合可區分發光組分、能量轉移和非輻射損失。

5. 問:HiLight 990測試中,哪些實驗條件最影響結果?

答:壽命和時間分辨光譜應根據樣品時間尺度選擇 TCSPC、MCS 或其他采集模式。還應記錄與時間分辨熒光和MCS多通道標度相關的設置,因為這些條件可能改變信號幅值、時間尺度、空間分布或計算結果。缺少條件記錄時,即使曲線外觀相似,也不宜直接比較。

6. 問:如何提高HiLight 990數據的重複性和跨樣品可比性?

答:光緻與電緻發光比較需統一探測光路和光譜響應校正。建議設置空白、標準樣品或重複樣品,固定采集設置、校準方式和數據處理流程,並保留原始數據與完整元數據。批量測試還應監測系統隨時間的漂移。

7. 問:針對時間相關單光子計數TCSPC,怎樣設計一組更容易複核的實驗?

答:先固定樣品製備和HiLight 990的基礎采集條件,再隻改變一個目標變量;隨後進行重複測量、條件反轉或對照實驗,並檢查原始數據是否支持同一趨勢。若時間相關單光子計數TCSPC的解釋依賴模型,應同時報告模型假設、擬合殘差和參數不確定度。

8. 問:MCS多通道標度為什麼容易造成誤判?如何排查?

答:多通道標度(MCS)按時間通道累積事件,常用於較長壽命、延遲熒光和磷光過程。其適用時間範圍和計數方式與TCSPC不同。排查時可從儀器校準、背景與空白、信號強度依賴、時間或空間重複性四個方面入手。隻有誤差來源被控製後,HiLight 990結果才適合用於機理討論。

9. 問:光緻發光與電緻發光與當前研究熱點有什麼關系?

答:光緻發光(PL)由光激發產生,電緻發光(EL)由載流子注入產生。對比PL與EL有助於區分材料本征發光、載流子注入和器件結構造成的差異。該問題連接HiLight 990測量與當前科研中的性能比較、過程追蹤或可靠性評價。

10. 問:研究人員解讀HiLight 990結果時,如何避免過度結論?

答:應先確認測試條件與方法假設,再結合時間相關單光子計數TCSPC、MCS多通道標度及獨立表征交叉判斷。單一數值、單張圖譜或一次測試通常不足以支持完整機理結論;重複實驗、對照組和原始數據質量比結論措辭更重要。

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光電一體化時間分辨光譜儀 HiLight 990
光電一體化時間分辨光譜儀,又稱光緻/電緻/穩態/瞬態/時間分辨熒光光譜儀。該設備擁有光緻和電緻熒光光譜模塊,可以對各類型的光緻(熒光、磷光、延遲熒光等)和電緻發光樣品進行全面的穩、瞬態測試分析,可在200 nm 至5500 nm寬波長、2.5 ns至1200 s寬時域範圍上對微弱發光信號進行精準測量。
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