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電緻發光測量儀 NovaLum

電緻發光測量儀NovaLum包括IVL測試、器件壽命測試、空間角度分布測試等功能，適用於電緻發光樣品電緻發光效率（電流效率、功率效率、外量子效率等）、光度學、色度學、穩定性、發光角度分布等相關性能參數的精確測量。該測量儀很好地解決了行業上：（1）利用分光輻射度計測試時，存在低亮度測試速度慢、高亮度過曝的問題，從而不能用於易老化器件的測試，也不適宜用於寬亮度範圍的器件測試；（2）利用積分球系統測試時，無法得到準確的前向亮度參數，且高亮度時也存在過曝問題，不能對強發光樣品進行測試等的問題。

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產品簡介

電緻發光測量系統NovaLum是是東譜科技HiOE穩態綜合光電特性測量平台中的重要成員，用於測量OLED、QLED、PeLED及顯示器件的亮度、效率、光色和空間發光特性。系統兼顧低亮與高亮測試。該系統包括IVL測試、器件壽命測試、空間角度分布測試等功能，可以便捷、快速地得到電緻發光器件全面的性能參數，如電緻發光效率（電流效率、功率效率、外量子效率等）、光度學、色度學、穩定性、發光角度分布等相關性能參數。該設備很好地解決了行業上：（1）利用分光輻射度計測試時，存在低亮度測試速度慢、高亮度過曝的問題，從而不能用於易老化器件的測試，也不適宜用於寬亮度範圍的器件測試；（2）利用積分球系統測試時，無法得到準確的前向亮度參數，且高亮度時也存在過曝問題，不能對強發光樣品進行測試等的問題。

產品特點

□ 可以得到準確的亮度，因而適宜OLED、鈣鈦礦LED、量子點LED、顯示屏等面光源的測量；

□ 高度集成化，自動對焦和觀察、自動位移、自動子器件切換；

□ 支持IV、IVλ、IVL、IVLλ、、發光角度分布器件壽命和自動角度分辨測試，獲得效率、光色和空間發光分布；

□ 外量子效率EQE、電流效率、功率效率等；

□ CIE、CCT、MK-1（mred）、CRI、RGB顏色值、峰值波長等；

□ L-t、EQE-t、V-t、J-t、 λ-t 、CE-t、LE-t、PE-t、CIE-t曲線等；

□ 二維成像Mapping（MicroLED、微納器件、多像素陣列）；

□ 配備自動化的角度分辨測試功能，可以快速得到樣品發光的空間分布特性；

□ 配備了穩定性測試功能，進行老化測試，具有寬的亮度檢測範圍（<1cd/m^2 ~999900 cd/m^2 ），並通過自動積分時間兼顧低亮度測量速度與高亮度防過曝；

□ 可以進行各種環境的測試，如氣體氛圍、器件不封裝轉移測試等，同時可以實現手套箱內快速換樣測試；

配備自動對焦、三軸位移、可視化觀察、多子器件切換及惰性氣氛轉移測試，可以極大地提升測試效率；

□ 提供1/3°測量角及小至Ø4.5 mm測量區域，適配面光源、微小器件和多像素陣列。

產品功能

□ 多種掃描模式：電壓掃描、電流掃描、角度掃描、時間掃描；

□ 分段循環電流、電壓掃描：可以研究器件的遲滯效應等；

□ 實時測量：可以實時單點測量，靈活判斷器件的工作情況；

□ 兩線/四線測量：四線測量可更加準確地測量器件的電流電壓； 

□ 自動切換器件：通過軟件選擇測量的子器件；

□ 自動積分時間：避免因為亮度過低導緻測不出信號、或亮度過高導緻的過曝的問題；

□ 配備可視化實時觀察及位移系統：在軟件中可以實時觀察到器件的表面發光情況，可軟件操作對焦；

□ 自動保存數據：測量過程中自動保存數據，避免數據丟失等狀況。

規格參數

亮度測量

光譜測量

亮度範圍

0.01~9,999,000 cd/m^2

波長範圍

200-850nm 或者 350-1000nm

測試角

1/3°

積分時間

4 ms - 10 s

視角

9°

動態範圍

1300:1

相對光譜敏感度

匹配 CIE 光譜發光效率函數 V (λ)

校準線性度

>99.8%

最小測量面積 Ø 

4.5 mm (0.4mm)

光學分辨率

~1.5 nm (FWHM)

最短測量距離 

1012mm (213mm)

電流電壓測量

測量時間

AUTO：0.7~4.3 s

電壓範圍/分辨率

-210V~210V/100nV

MANUAL：0.7~7.1 s

電流範圍 /分辨率

-1.05A~1.05A/1pA

產品應用

□ 量子點發光二極管（QLED）

□ 有機發光二極管（OLED）

□ 發光二極管（LED）

□ 鈣鈦礦發光二極管（PeLED）

□ 其它各種類型的電緻發光器件

測試案例

LED器件測試示例





顯示屏測試示例





專業名詞解析

電緻發光EL： 電緻發光（EL）是器件在電驅動下注入載流子並複合發光的過程。EL光譜、亮度和效率共同反映材料、器件結構和驅動條件；

IVL測試： IVL測試同步記錄發光器件的電流、電壓和亮度關系，用於分析開啟電壓、亮度增長、效率和工作狀態。器件有效面積、光學收集方式和驅動模式會影響結果；

亮度： 亮度描述發光表面在特定方向的視覺亮度，常用cd/m²表示。亮度受光譜視覺權重和觀察幾何影響，不等同於總輻射功率；

角度發光分布： 角度發光分布描述器件發光隨觀察角度的變化，與微腔、光提取和顯示視角相關。測量時需明確角度定義和光學幾何；

色坐標： 色坐標用標準色度空間表示發光顏色。它由光譜計算得到，適合評價顏色漂移，但不能單獨代表亮度或效率。

常見問題

NovaLum是一款電緻發光器件前向亮度、IVL、壽命與角度分布測量平台，用於測量OLED、QLED、PeLED及顯示器件的亮度、效率、光色和空間發光特性。理解NovaLum時，重點關注電緻發光EL、IVL測試、亮度、角度發光分布和色坐標。可能。峰位、譜寬和各發光組分比例的細微變化都會影響色坐標，角度發光分布也可能造成觀察顏色差異。

1. 問：NovaLum是什麼設備，核心測量或功能是什麼？

答：NovaLum是一款電緻發光器件前向亮度、IVL、壽命與角度分布測量平台，用於測量OLED、QLED、PeLED及顯示器件的亮度、效率、光色和空間發光特性。支持IV、IVλ、IVL、IVLλ、器件壽命和自動角度分辨測試，獲得效率、光色和空間發光分布。開展實驗前，應先明確希望比較的指標、工作條件和數據輸出，再據此設計NovaLum的測量流程。

2. 問：電緻發光EL是什麼？

答：電緻發光（EL）是器件在電驅動下注入載流子並複合發光的過程。EL光譜、亮度和效率共同反映材料、器件結構和驅動條件。

3. 問：如何正確理解IVL測試，常見誤區是什麼？

答：IVL測試同步記錄發光器件的電流、電壓和亮度關系，用於分析開啟電壓、亮度增長、效率和工作狀態。器件有效面積、光學收集方式和驅動模式會影響結果。常見誤區是隻比較最終數值，卻忽略測試條件、校準狀態或樣品差異。使用NovaLum進行跨樣品比較時，應保證關鍵條件一緻並報告不確定度。

4. 問：發光器件光譜穩定但顏色仍可能變化嗎？

答：可能。峰位、譜寬和各發光組分比例的細微變化都會影響色坐標，角度發光分布也可能造成觀察顏色差異。

5. 問：NovaLum測試中，哪些實驗條件最影響結果？

答：電緻發光測試需統一器件面積、驅動條件和光學收集方式。還應記錄與IVL測試和角度發光分布相關的設置，因為這些條件可能改變信號幅值、時間尺度、空間分布或計算結果。缺少條件記錄時，即使曲線外觀相似，也不宜直接比較。

6. 問：如何提高NovaLum數據的重複性和跨樣品可比性？

答：高亮度下應同時關注器件溫升、光譜漂移和效率變化。建議設置空白、標準樣品或重複樣品，固定采集設置、校準方式和數據處理流程，並保留原始數據與完整元數據。批量測試還應監測系統隨時間的漂移。

7. 問：針對亮度，怎樣設計一組更容易複核的實驗？

答：先固定樣品製備和NovaLum的基礎采集條件，再隻改變一個目標變量；隨後進行重複測量、條件反轉或對照實驗，並檢查原始數據是否支持同一趨勢。若亮度的解釋依賴模型，應同時報告模型假設、擬合殘差和參數不確定度。

8. 問：角度發光分布為什麼容易造成誤判？如何排查？

答：角度發光分布描述器件發光隨觀察角度的變化，與微腔、光提取和顯示視角相關。測量時需明確角度定義和光學幾何。排查時可從儀器校準、背景與空白、信號強度依賴、時間或空間重複性四個方面入手。隻有誤差來源被控製後，NovaLum結果才適合用於機理討論。

9. 問：色坐標與當前研究熱點有什麼關系？

答：色坐標用標準色度空間表示發光顏色。它由光譜計算得到，適合評價顏色漂移，但不能單獨代表亮度或效率。該問題連接NovaLum測量與當前科研中的性能比較、過程追蹤或可靠性評價。報告結果時，應給出明確實驗條件和判斷邊界，避免把相關性寫成因果關系。

10. 問：研究人員解讀NovaLum結果時，如何避免過度結論？

答：應先確認測試條件與方法假設，再結合亮度、角度發光分布及獨立表征交叉判斷。單一數值、單張圖譜或一次測試通常不足以支持完整機理結論；重複實驗、對照組和原始數據質量比結論措辭更重要。

產品關鍵詞：電緻發光測試儀，電緻發光量子效率測量系統，外量子效率測量系統，光譜功率分布（λ）測量系統，電功率密度測量系統，發光特性測試系統，電緻發光量子效率測試系統，發光量子產率測量系統，光電特性測試，量子產率測量儀，積分球光譜測試儀，發光特性測量儀，IVLλ，有機發光二極管綜合性能測試系統，絕對量子效率測試儀，量子效率測試系統

Product Keywords: Electroluminescence tester, electroluminescence Quantum efficiency Measurement System, External Quantum Efficiency Measurement System, Spectral Power Distribution (λ) measurement system, electric power density measurement system, Luminescence characteristic test system, Electroluminescence quantum Efficiency Test System, Luminescence quantum Yield Measurement System, photoelectric characteristic test, quantum Yield measurement instrument, integrating sphere Spectrum tester, Luminescence characteristic measurement instrument, IVLλ, organic light-emitting diode comprehensive performance test system, absolute quantum efficiency tester, quantum efficiency test system

電緻發光測量儀 NovaLum
電緻發光測量儀NovaLum包括IVL測試、器件壽命測試、空間角度分布測試等功能，適用於電緻發光樣品電緻發光效率（電流效率、功率效率、外量子效率等）、光度學、色度學、穩定性、發光角度分布等相關性能參數的精確測量。該測量儀很好地解決了行業上：（1）利用分光輻射度計測試時，存在低亮度測試速度慢、高亮度過曝的問題，從而不能用於易老化器件的測試，也不適宜用於寬亮度範圍的器件測試；（2）利用積分球系統測試時，無法得到準確的前向亮度參數，且高亮度時也存在過曝問題，不能對強發光樣品進行測試等的問題。
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