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電緻發光測量儀 NovaLum

電緻發光測量儀NovaLum包括IVL測試、器件壽命測試、空間角度分布測試等功能，適用於電緻發光樣品電緻發光效率（電流效率、功率效率、外量子效率等）、光度學、色度學、穩定性、發光角度分布等相關性能參數的精確測量。該測量儀很好地解決了行業上：（1）利用分光輻射度計測試時，存在低亮度測試速度慢、高亮度過曝的問題，從而不能用於易老化器件的測試，也不適宜用於寬亮度範圍的器件測試；（2）利用積分球系統測試時，無法得到準確的前向亮度參數，且高亮度時也存在過曝問題，不能對強發光樣品進行測試等的問題。

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產品關鍵詞：電緻發光測試儀、電緻發光量子效率測量系統、外量子效率測量系統、光譜功率分布（λ）測量系統、電功率密度測量系統、發光特性測試系統、電緻發光量子效率測試系統、發光量子產率測量系統、光電特性測試、量子產率測量儀、積分球光譜測試儀、發光特性測量儀、IVLλ 、有機發光二極管綜合性能測試系統、絕對量子效率測試儀、量子效率測試系統


Product Keywords: Electroluminescence tester, electroluminescence Quantum efficiency Measurement System, External Quantum Efficiency Measurement System, Spectral Power Distribution (λ) measurement system, electric power density measurement system, Luminescence characteristic test system, Electroluminescence quantum Efficiency Test System, Luminescence quantum Yield Measurement System, photoelectric characteristic test, quantum Yield measurement instrument, integrating sphere Spectrum tester, Luminescence characteristic measurement instrument, IVLλ, organic light-emitting diode comprehensive performance test system, absolute quantum efficiency tester, quantum efficiency test system


產品簡介

電緻發光測量系統NovaLum是東譜科技HiOE穩態綜合光電特性測量平台中的重要成員，用於對電緻發光樣品的性能進行精確測量。該系統包括IVL測試、器件壽命測試、空間角度分布測試等功能，可以便捷、快速地得到電緻發光器件全面的性能參數，如電緻發光效率（電流效率、功率效率、外量子效率等）、光度學、色度學、穩定性、發光角度分布等相關性能參數。該設備很好地解決了行業上：（1）利用分光輻射度計測試時，存在低亮度測試速度慢、高亮度過曝的問題，從而不能用於易老化器件的測試，也不適宜用於寬亮度範圍的器件測試；（2）利用積分球系統測試時，無法得到準確的前向亮度參數，且高亮度時也存在過曝問題，不能對強發光樣品進行測試等的問題。

產品特點

□ 可以得到準確的亮度，因而適宜OLED、鈣鈦礦LED、量子點LED、顯示屏等面光源的測量。

□ 高度集成化，自動對焦和觀察、自動位移、自動子器件切換；

□ IV、IVλ、IVL、IVLλ、發光角度分布；

□ 外量子效率EQE、電流效率、功率效率等；

□ CIE、CCT、MK-1（mred）、CRI、RGB顏色值、峰值波長等；

□ L-t、EQE-t、V-t、J-t、 λ-t 、CE-t、LE-t、PE-t、CIE-t曲線等；

□ 二維成像Mapping（MicroLED、微納器件、多像素陣列）；

□ 配備自動化的角度分辨測試功能，可以快速得到樣品發光的空間分布特性；

□ 配備了穩定性測試功能，進行老化測試，具有寬的亮度檢測範圍（<1cd/m^2 ~999900 cd/m^2 ）；

□ 可以進行各種環境的測試，如氣體氛圍、器件不封裝轉移測試等，同時可以實現手套箱內快速換樣測試；

□ 配備自動對焦和觀察、自動位移、自動子器件切換等系統，可以極大地提升測試效率。

產品功能

□ 多種掃描模式：電壓掃描、電流掃描、角度掃描、時間掃描。 

□ 分段循環電流、電壓掃描：可以研究器件的遲滯效應等。

□ 實時測量：可以實時單點測量，靈活判斷器件的工作情況。 

□ 兩線/四線測量：四線測量可更加準確地測量器件的電流電壓。 

□ 自動切換器件：通過軟件選擇測量的子器件。

□ 自動積分時間：避免因為亮度過低導緻測不出信號、或亮度過高導緻的過曝的問題。

□ 配備可視化實時觀察及位移系統：在軟件中可以實時觀察到器件的表面發光情況，可軟件操作對焦。

□ 自動保存數據：測量過程中自動保存數據，避免數據丟失等狀況。

規格參數

亮度測量
光譜測量
亮度範圍0.01~9,999,000 cd/m^2波長範圍200-850nm 或者 350-1000nm
測試角1/3°積分時間4 ms - 10 s
視角9°動態範圍1300:1
相對光譜敏感度匹配 CIE 光譜發光效率函數 V (λ)校準線性度>99.8%
最小測量面積 Ø 4.5 mm (0.4mm)光學分辨率~1.5 nm (FWHM)
最短測量距離 1012mm (213mm)電流電壓測量
測量時間

AUTO：0.7~4.3 s

電壓範圍/分辨率-210V~210V/100nV
MANUAL：0.7~7.1 s電流範圍 /分辨率-1.05A~1.05A/1pA

產品應用

□ 量子點發光二極管（QLED）

□ 有機發光二極管（OLED）

□ 發光二極管（LED）

□ 鈣鈦礦發光二極管（PeLED）

□ 其它各種類型的電緻發光器件

測試案例

LED器件測試示例
顯示屏測試示例





電緻發光測量儀 NovaLum
電緻發光測量儀NovaLum包括IVL測試、器件壽命測試、空間角度分布測試等功能，適用於電緻發光樣品電緻發光效率（電流效率、功率效率、外量子效率等）、光度學、色度學、穩定性、發光角度分布等相關性能參數的精確測量。該測量儀很好地解決了行業上：（1）利用分光輻射度計測試時，存在低亮度測試速度慢、高亮度過曝的問題，從而不能用於易老化器件的測試，也不適宜用於寬亮度範圍的器件測試；（2）利用積分球系統測試時，無法得到準確的前向亮度參數，且高亮度時也存在過曝問題，不能對強發光樣品進行測試等的問題。
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