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變溫交直流霍爾測量儀 LorentX

LorentX包括霍爾效應測量、變溫恒溫器和外加磁場三部分。能夠在不同的溫度條件下對半導體材料、薄膜的電阻率、載流子濃度、磁阻率、霍爾系數以及遷移率等參數進行精確測量。支持液氮、液氦低溫恒溫器耦合，能夠在不同的溫度區間內進行精確的溫度控製與測量。

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產品特點

□ LorentX包括霍爾效應測量、變溫恒溫器和外加磁場三部分；

□ 能夠在不同的溫度條件下對半導體材料、薄膜的電阻率、載流子濃度、磁阻率、霍爾系數以及遷移率等參數進行精確測量；

□ 支持液氮、液氦低溫恒溫器耦合，能夠在不同的溫度區間內進行精確的溫度控製與測量。


功能參數

□ 體載流子濃度、表面載流子濃度；

□ 載流子遷移率；

□ 霍爾系數；

□ 電阻率、方塊電阻；

□ 磁緻電阻；

□ 電阻的縱橫比率；

□ 變溫測量選配件：上述參數隨溫度的變化。


產品系列

□ LRX-D5500直流霍爾效應測量儀：經典設計，穩定可靠，適合常規材料遷移率和載流子濃度的快速測量；

□ LRX-A5500交流霍爾效應測量儀：突破性技術，減少熱效應和噪聲幹擾，特別適合低遷移率材料和高阻材料的精準表征；

□ LX-DA5500交直流霍爾效應測量儀：二合一多功能設計，兼具直流與交流測量模式，滿足複雜實驗需求，助您探索材料的全方位特性。


產品應用

□ 摻雜有機半導體材料（P型和N型）；

□ Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, , AlZnO, FeCdTe, ZnO，TCO(including ITO)等半導體薄膜（P型和N型）；

□ 自由基材料；

□ 本征半導體、低遷移率半導體、MOF、COF、二維半導體等材料。


變溫交直流霍爾測量儀 LorentX
LorentX包括霍爾效應測量、變溫恒溫器和外加磁場三部分。能夠在不同的溫度條件下對半導體材料、薄膜的電阻率、載流子濃度、磁阻率、霍爾系數以及遷移率等參數進行精確測量。支持液氮、液氦低溫恒溫器耦合，能夠在不同的溫度區間內進行精確的溫度控製與測量。
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