東譜科技飛行時間法遷移率測量儀FlyTOF

FlyTOF飛行時間法遷移率測量儀是東譜科技HiTran瞬態綜合光電特性測量平台中的重要成員。該系統利用飛行時間法（time-of-flight，TOF）測量半導體材料的遷移率以及相關的光電特性，廣泛適用於各類半導體材料，如矽基半導體、第二代半導體、第三代寬帶隙半導體、有機半導體、鈣鈦礦半導體、量子點半導體、二維材料半導體、金屬-有機框架（MOF）、共價有機框架（COF）等。FlyTOF基於我司的MagicBox主機研製而成，配備便捷的上位機控製和數據測量軟件，可助力客戶進行快速、準確的測量。FlyTOF是東譜科技源頭研發產品，是業內首款自動化、集成化的飛行時間法遷移率測試商業化設備。

遷移特性是半導體最為基礎的性質之一，是半導體在電子學和光電子學等領域進行應用的基礎。半導體的遷移率定義為單位電場下載流子的平均漂移速度。TOF遷移率測試方法直接由遷移率的定義發展而來。 相比於一些間接的遷移率測試方法，如空間電荷限製電流（SCLC）法等，TOF的方法被認為是最接近“真實”遷移率的一種測量方法。通過TOF瞬態光電流信號的分析，可以得到電子遷移率、空穴遷移率等參數；用戶還可以利用這些數據，結合材料的物理模型進行分析，得到雜質濃度、缺陷、能帶混亂度、電荷跳躍距離等參數。

作為TOF遷移率測試方法商業化應用的先行者，東譜科技已攜手客戶廣泛探索了FlyTOF在有機半導體、矽基半導體、鈣鈦礦半導體、二維材料、共價有機框架等領域的應用。東譜期待與您共同開拓FlyTOF更多的應用領域。

• 載流子遷移率測量值覆蓋10^-9~10^6 cm^2/(V.s)；
  
• 專業的信號調教，電磁兼容噪聲小；
  
• 行業最先進的TOF測試功能；
  
• 軟件自動控製，測試快速便捷；
  
• 快速換樣裝置，惰性氣體氛圍測試；
  
• 可實現寬溫度範圍的變溫測試（選配）；
  
• 可通過可視化系統看到光斑照射情況；
  
• 可靈活耦合各種類型的激發光源。
  

FlyTOF核心功能為飛行時間法（TOF）瞬態光電流測量技術，可精確測定半導體材料的電子遷移率、空穴遷移率、載流子濃度及載流子壽命。系統支持變溫環境下的測量拓展，並可選配橫向飛行時間法（Lateral-TOF）測試功能及其附件，以及TOF二維掃描（mapping）功能及相應附件，實現更全面的材料表征。

FlyTOF廣泛應用於各類半導體材料的研究，涵蓋有機半導體、量子點半導體、元素半導體（如Si、Ge）、金屬-有機框架（MOF）、二維材料、寬帶隙第三代半導體、鈣鈦礦材料、化合物半導體（如InGaAs）、共價有機框架（COF）及其他多種半導體材料體系。