東譜科技電緻發光測量儀 NovaLum

電緻發光測量系統NovaLum是東譜科技HiOE穩態綜合光電特性測量平台中的重要成員，用於對電緻發光樣品的性能進行精確測量。該系統包括IVL測試、器件壽命測試、空間角度分布測試等功能，可以便捷、快速地得到電緻發光器件全面的性能參數，如電緻發光效率（電流效率、功率效率、外量子效率等）、光度學、色度學、穩定性、發光角度分布等相關性能參數。該設備很好地解決了行業上：（1）利用分光輻射度計測試時，存在低亮度測試速度慢、高亮度過曝的問題，從而不能用於易老化器件的測試，也不適宜用於寬亮度範圍的器件測試；（2）利用積分球系統測試時，無法得到準確的前向亮度參數，且高亮度時也存在過曝問題，不能對強發光樣品進行測試等的問題。

• 可以得到準確的亮度，因而適宜OLED、鈣鈦礦LED、量子點LED、顯示屏等面光源的測量；
  
• 配備自動化的角度分辨測試功能，可以快速得到樣品發光的空間分布特性；
  
• 配備了穩定性測試功能，進行老化測試，具有寬的亮度檢測範圍（<1cd/m^2 ~999900 cd/m^2 ）；
  
• 可以進行各種環境的測試，如氣體氛圍、器件不封裝轉移測試等，同時可以實現手套箱內快速換樣測試；
  
• 配備自動對焦和觀察、自動位移、自動子器件切換等系統，可以極大地提升測試效率。
  

NovaLum提供多樣化的掃描模式，包括電壓掃描、電流掃描、角度掃描和時間掃描，並支持分段循環電流、電壓掃描以深入研究器件遲滯效應等特性。同時，具備實時單點測量功能，便於靈活判斷器件工作狀態；提供兩線及四線測量選項，其中四線模式可顯著提升電流電壓測量精度。此外，產品支持通過軟件自動選擇測量子器件、智能調節積分時間以避免低亮度信號缺失或高亮度過曝問題，並配備可視化實時觀察及位移系統（可在軟件中觀察器件表面發光並進行對焦操作）。測量數據全程自動保存，有效防止丟失。

NovaLum應用範圍廣泛，適用於量子點發光二極管（QLED）、有機發光二極管（OLED）、發光二極管（LED）、鈣鈦礦發光二極管（PeLED）及其他各類電緻發光器件的研究與測試。