東譜科技多通道電緻發光特性測量系統EL-Lab

HiYield-EL電緻發光量子效率測量系統是東譜科技 HiOE 綜合發光特性測量平台中的重要成員，用於對電緻發光樣品的發光特性進行精確測量。HiYield-EL系統能夠以一流的檢測精度對電緻發光器件進行縱深測量，得到全面的絕對法測量的電緻發光效率參數（外量子效率等）以及相關的電學、輻射度學、光度學、色度學等參數；同時該系統集成了穩定性測試模塊，可以對器件的老化過程進行測試，且同時得到器件老化過程的全面信息，即涵蓋了上述發光效率、電學、輻射度學、光度學、色度學等全面參數（通常的老化測試儀，僅對電流、電壓和相對亮度進行測試）。另外，該系統支持拓展PLQY測試模塊，具備： 

• 采用PL法，結合積分球，準確測量發光樣品的效率參數、輻射度參數、色度 參數等；
  
• 高靈敏度、高動態範圍、高信噪比的測量；
  
• 多種測量模式可供選 擇：單激發波長量子效率、激發波長依賴量子效率、量子效率穩定性測試；
  
• 全自動一鍵測試。  
  

HiYield-EL核心優勢在於多通道批量測量能力，顯著提升測試效率。整機設計緊湊，可置於手套箱內進行特定氛圍下的測試。它支持長時間、多器件的並行老化測試，並兼容寬溫度範圍的變溫測試（變溫測試通道為選配配置），能夠全面滿足電緻發光器件的各項測試需求。

在測試通道配置上靈活可定製：提供總計6個測試通道，其中包括5個IVL測試通道、1個光譜測試通道和5個老化（穩定性）測試通道，用戶可根據具體需求定製不同數量和功能的通道組合。

HiYield-EL功能參數覆蓋全面，可精準測量：

發光效率參數：外量子效率(EQE)、電流效率、功率效率等；

電學參數：電壓(V)、電流(I)、電流密度(J)、電功率密度等；

輻射度學參數：光譜功率分布、輻射通量、光視效能、主波長等；

光度學參數：亮度、光通量等；

色度學參數：CIE色度坐標、相關色溫(CCT)、MK-1、顯色指數(CRI)等；

器件老化參數：記錄不同老化時間點下的上述所有參數變化；

變溫測量參數：在溫度變化條件下獲取器件的性能數據。

HiYield-EL廣泛應用於各類電緻發光器件的研發與測試，主要面向：

量子點發光二極管（QLED）

有機發光二極管（OLED）

發光二極管（LED）

鈣鈦礦發光二極管（PeLED）

以及其他各種類型的電緻發光器件。