東譜科技光緻發光量子效率測量系統HiYield-PL

HiYield-PL光緻發光特性測量系統是東譜科技HiOE綜合發光特性測量平台中的重要成員，與東譜科技的絕對法電緻發光特性測量系統 HiYield-EL（請垂詢銷售專員）共同為行業提供了完善的發光樣品測量方案。HiYield-PL 系統由一系列相應的測量組件組成，包括激發光源、單色儀、光譜測量模塊等。利用該系統組件的分布特性，可以靈活搭建適用於不同類型樣品的測量系統，也可以適應豐富的測量場景，如手套箱測量等。HiYield-PL測量系統具備以下主要功能： 

• 采用PL法，結合積分球，準確測量發光樣品的效率參數、輻射度參數、色度參數等；
  
• 高靈敏度、高動態範圍、高信噪比的測量；
  
• 多種測量模式可供選擇：單激發波長量子效率、激發波長依賴量子效率、量子效率穩定性測試；
  
• 全自動一鍵測試。
  

HiYield-PL采用靈活的模塊化設計，可適配多種測量場景。整機結構緊湊，可直接置於手套箱內進行氮氣氛圍下的測試。產品配備專業的研究級算法，確保精準獲取光緻發光量子效率（PLQY）數據。為提升效率與可靠性，可選配自動進樣系統，有效減少人為操作失誤，提高測量重複性。操作便捷性突出，軟件支持全自動流程化操作，實現一鍵測量所有相關參數。

在功能參數方面，HiYield-PL能夠全面測量：

效率參數：發光量子效率（PLQY）、內量子效率（IQE）、激發波長依賴量子效率、藍光吸收比、衰減比率；

輻射度學參數：光譜功率分布、輻射通量、光子數、光通量、光視效能、峰值波長、中心波長等；

色度學參數：CIE色度坐標、相關色溫（CCT）、顯色指數（CRI）、RGB顏色值等；

時間依賴性衰減參數：PLQY隨時間變化（PLQY-t）、峰值/中心波長隨時間變化（λ-t）、輻射強度隨時間變化（Radiance-t）、光通量隨時間變化（Lumen-t）、衰減速率（K-t）、CIE色坐標隨時間變化（CIE-t）、相關色溫隨時間變化（CCT-t）、顯色指數隨時間變化（CRI-t）等。

HiYield-PL 主要應用在有機金屬複合物 、熒光探針 、染料敏化型PV材料 、OLED材料 、LED熒光粉 、薄膜、粉末、液體等類型的光緻發光樣品等方面。