東譜科技電緻發光量子效率測量儀HiYield-EL

電緻發光量子效率測量儀HiYield-EL是東譜科技 HiOE 綜合發光特性測量平台中的重要成員，用於對電緻發光樣品的發光特性進行精確測量。HiYield 系統能夠以一流的檢測精度對電緻發光器件進行縱深測量，得到全面的絕對法測量的電緻發光效率參數（量子效率EQE等）以及相關的電學、輻射度學、光度學、色度學等參數；同時該系統集成了穩定性測試模塊，可以對器件的老化過程進行測試，且同時得到器件老化過程的全面信息，即涵蓋了上述發光效率、電學、輻射度學、光度學、色度學等全面參數（通常的老化測試儀，僅對電流、電壓和相對亮度進行測試），典型的包括電緻發光效率/量子效率EQE、壽命測試、CIE、CRI、CCT、光譜響應、光譜功率分布、IV、JV、總光譜輻射通量、輻射通量、光通量、光效、光譜強度、峰值波長、FHWM等，廣泛應用於各種類型的電緻發光器件測量。

• 能夠以一流的檢測精度對電緻發光器件進行縱深測量，得到全面的絕對法測量的電緻發光效率參數（外量子效率等）以及相關的電學、輻射度學、光度學、色度學等參數；
  
  
• 集成了穩定性測試模塊，可以對器件的老化過程進行測試，且同時得到器件老化過程的全面信息，即涵蓋了上述發光效率、電學、輻射度學、光度學、色度學等全面參數（通常的老化測試儀，僅對電流、電壓和相對亮度進行測試）；
  
  
• 由軟件控製測試過程，操作便捷，圖表和數據實時顯示；
  
  
• 可快速、可靠對樣品的測試過程進行追蹤；
  
  
• 具有實時測量、預測量、定製測量、掃描測量、時間依賴測量等豐富的測量模式。
  

HiYield-EL具備全面的光電性能測試能力。在測量參數方面，可獲取多種效率參數（如發光效率/外量子效率EQE、電流效率、功率效率）、電學參數（如電壓V、電流I、電流密度J、電功率W、電功率密度）、輻射度學參數（如光譜功率分布、輻射通量、光通量、光視效能、峰值波長、主波長）以及色度學參數（如CIE色度坐標、相關色溫CCT、MK-1(mred)、顯色指數CRI、RGB顏色值），同時支持穩定性測試。

HiYield-EL提供多種測量模式以滿足不同測試需求：包括電壓掃描（含分段掃描、循環掃描等）、電流掃描（含分段掃描、循環掃描等）、恒壓單點測量、恒流單點測量以及穩定性測量（可在不同老化時間點進行測量）。

HiYield-EL產品應用範圍廣泛，主要面向各類電緻發光器件的測試，包括：量子點發光二極管（QLED）、有機發光二極管（OLED）、發光二極管（LED）、鈣鈦礦發光二極管（PeLED）以及其他各種類型的電緻發光器件。