隨著新型顯示技術、固態照明及光電器件的快速發展，電緻發光器件（如QLED、OLED、PeLED等）的性能優化與量產穩定性成為行業核心關注點。電緻發光特性（如外量子效率、光譜分布、老化參數等）的精準測量是器件研發與質量控製的關鍵環節。然而，傳統測試系統存在通道單一、功能局限、環境適應性差等問題，難以滿足多器件並行測試、變溫老化分析及複雜場景的定製化需求。

東譜科技作為光電測試領域的引領者，基於深厚的行業經驗與技術創新，推出多通道電緻發光特性測量系統ELLab。該系統以模塊化設計為核心，支持多通道擴展與差異化功能配置，適配批量測量、手套箱集成、變溫測試等高複雜度場景，為電緻發光器件的研發、生產及老化研究提供高效、精準的一站式解決方案，助力用戶突破效率與可靠性瓶頸。

多通道電緻發光特性測量系統EL-Lab是東譜科技 HiOE 綜合發光特性測量平台中的重要成員，與東譜科技的絕對法電緻發光特性測量系統 HiYield 共同為行業提供了完善的電緻發光的測量方案。該系統由一系列相應的分布測量組件組成，包括光電測量模塊、亮度校準模塊、光譜測量模塊等。利用該系統組件的分布特性，可以靈活搭建適用於不同類型器件的測量系統。該系統可以便捷地擴展測量通道數量，且可以為不同的測試通道配備相同或者差異的測試功能，從而可以適應豐富的測量場景，如批量測量、手套箱測量、變溫測量、老化測量等。

電緻發光特性測量通過激發器件產生光信號，結合光電探測器與光譜分析技術，量化器件的發光效率、光譜特性及穩定性參數。EL-Lab系統通過模塊化組件（光電測量、亮度校準、光譜測量）協同工作，實現光強、色度、電學參數的全維度同步采集與分析，為器件性能評估提供全面數據支撐。

（一）技術特點

(1) 多通道靈活擴展：

單模塊支持24通道，可通過擴展實現多模塊級聯，滿足從實驗室單器件測試到產線批量檢測的多樣化需求。

各通道可獨立配置相同或差異化測試功能（如EQE、IVL、光譜分析等），適配複雜實驗設計。

(2) 全場景覆蓋：

支持氛圍手套箱集成，滿足氧/水敏感器件（如鈣鈦礦器件）的原位測試需求。

變溫測試範圍廣（50°C至150°C），可模擬極端環境下的器件性能變化。

集成老化測試功能，支持多通道長時間穩定性監測（如亮度衰減、效率漂移）。

(3) 高精度與高效性：

采用雙光路校準技術，確保亮度與光譜測量的絕對精度（±1%）。

並行數據采集技術大幅提升測試效率，適用於產線快速篩查與科研多參數對比。

（二）技術優勢

(1) 模塊化設計：用戶可根據需求自由搭配光電測量、光譜分析、老化監控等模塊，構建定製化測試平台。

(2) 環境兼容性：適配手套箱、溫控腔體等多種外設，解決敏感器件測試的環境限製問題。

(3) 智能化分析：內置軟件一鍵生成IVL曲線、CIE色坐標、老化趨勢報告，支持數據多維對比與導出。