隨著半導體材料與光電器件（如OLED、鈣鈦礦發光二極管PeLED、有機光伏OPV、異質結疊層電池等）的快速發展，研發過程中對器件電學與光電特性的多維動態分析需求日益迫切。傳統測試設備功能單一、操作複雜，難以滿足複雜器件在載流子動力學、界面特性、瞬態響應等方面的綜合研究需求。

東譜科技基於多年技術積累，推出全新一代多功能光電器件測量系統UltraTran。該系統集成了十餘種先進測試模塊，覆蓋從穩態到瞬態、從低頻到高頻的全維度光電特性分析，為半導體材料研發、光電器件性能優化及失效機理研究提供系統測試方案。

UltraTran是一款集成了多種光電測試功能的儀器設備，專門針對半導體材料和器件的電學與光電特性進行精確測量，尤其適用於發光（OLED、PeLED等）與光伏器件（OPV、晶矽PV、異質結疊層PV等。

（一）技術特點

(1) 全功能集成，覆蓋多維測試場景：

電學特性分析：支持IV測試、阻抗譜（IS）、脈衝電壓測試、深能級瞬態光譜（DLTS）。

瞬態響應研究：包含瞬態電緻發光（TranEL）、電荷抽取（CE）、線性增壓載流子測試（CELIV）、ON/OFF瞬態光電壓/光電流（TPV/TPC）。

調製光譜技術：集成強度調製光電流譜（IMPS）、光電壓譜（IMPV）、調製電緻發光光譜（MES），支持頻率域動態特性分析。

(2) 高精度與寬動態範圍：

電流檢測靈敏度低至pA級，電壓分辨率達μV級，阻抗測量頻率範圍0.1Hz10MHz。

支持光強調製範圍0.0015太陽光強，適配從弱光到強光的多場景測試需求。

(3) 自動化與高效性：

內置12通道自動切換模塊，支持批量樣品連續測試，單次全功能分析時間＜10分鍾。

軟件一鍵生成綜合報告，包括載流子壽命、陷阱密度、界面複合速率等關鍵參數。

（二）技術特點及性能參數

核心功能模塊：

(1) 基礎測試功能

電光轉換器件選配與光電轉換器件選配

功能概述：支持對電光和光電轉換器件的選配測試，能夠精確評估器件在不同工作條件下的性能表現。

斜坡電壓電流測試（RampIV）、階梯電壓電流測試（StepIV）和脈衝電壓電流測試（PulseIV）

功能概述：這些測試模式使得用戶能夠以不同的電學激勵方式對樣品進行掃描，從而獲得關於樣品在不同激勵下的電學性質。Ramp-IV以連續的方式提供電壓掃描，適用於捕捉材料響應的連貫變化；Step-IV則以逐步階梯的方式提供電壓，適合觀察材料在不同電壓階躍下的穩態行為；而Pulse-IV通過短時的電壓脈衝，允許研究器件的動力學IV特性，也可以有效減少器件的熱阻，增加器件的最大注入電流。

(2) 瞬態特性測試

開關瞬態光電流（onoffTPC）與開關瞬態光電壓（onoffTPV）

功能概述：測量器件在開關操作下的瞬態光電流和光電壓變化，揭示其響應速度和動態性能。

暗注入瞬態特性測試（DIT）

功能概述：在無光照條件下，分析器件內部載流子的注入和複合過程，獲取深能級缺陷等信息。

深能級瞬態譜（DLTS）

功能概述：通過監測器件在不同偏壓和溫度下的電容變化，確定深能級缺陷的能級位置和濃度。

(3) 電荷抽取測試

暗態線性增壓電荷抽取測試（DarkCELIV）與光態線性增壓電荷抽取測試（PhotoCELIV）

功能概述：分別在暗態和光態下，通過線性增壓的方式抽取器件內部的電荷，分析電荷的產生、傳輸和陷阱特性。

電荷抽取測試（CE）

功能概述：直接測量器件在特定條件下的電荷抽取能力，提供電荷量、抽取速度等參數。

(4) 阻抗與電容測試

阻抗譜測試（IS）與電容電壓測試（CV）

功能概述：為設備增加了額外的維度，使其能夠全面評估材料的阻抗和介電性能；阻抗譜測試用於分析器件在不同頻率下的阻抗特性，揭示其電學和結構信息；電容電壓測試則監測器件電容隨電壓的變化，獲取能帶結構和載流子濃度等信息。

(5) 光譜特性測試

強度調製光電流譜（IMPS）與強度調製光電壓譜（IMVS）

功能概述：通過調製光照強度，測量器件產生的光電流或光電壓譜，來探究材料對光強變化的頻率響應。

電緻發射譜（ELS）

功能概述：測量器件在電場作用下發射的光譜，了解其發光特性和載流子複合過程，研究材料的電緻發光特性。

核心性能參數：