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東譜科技 | 中國化學會第34屆學術年會完美收官

作者:東譜科技 瀏覽: 發表時間:2024-06-18 18:20:28

2024年6月15日- 6月18日,《第34屆中國化學會學術年會》在廣東省廣州白雲國際會議中心隆重開幕,東譜科技受邀參加出席本次會議。此次論壇以“邁向更高水平的科技組織”為主題,與會代表圍繞科技組織在推動科技創新、促進國際科技合作與發展的重要作用等展開了深入交流和討論,本次論壇的成功舉辦為未來更多的科技組織國際合作奠定了基礎,並進一步推動全球科技組織的建設與發展。

本次大會上,挑選了東譜科技創新設備進行展示,參展設備包括《飛行時間法載流子遷移率測量儀FlyTOF》《太陽能準費米能級分裂測量儀HiYield-QFLS》。

01

設備展示

1. 飛行時間法載流子遷移率測量儀FlyTOF

FlyTOF是東譜科技的源頭研發產品,於2019年全新發布,是業內首款自動化、集成化的商業設備。測試功能包括電子遷移率測量、空穴遷移率測量、表面載流子遷移率測量、TOF二維成像mapping等。可廣泛應用於有機半導體、金屬-有機框架、共價有機框、鈣鈦礦材料、二維材料、元素半導體(Si、Ge等)、化合物半導體(InGaAs等)、寬帶隙第三代半導體、量子點半導體等載流子遷移率測試。

FlyTOF

2. 太陽能準費米能級分裂測量儀HiYield-QFLS

HiYield-QFLS是東譜科技旗下HiYield產品家族的成員之一。主要用於測試太陽能電池的準費米能級分裂QFLS/暗指電壓iVoc。 HiYield-QFLS是國內首款商業化準費米能級分裂測試儀。它源自公司成熟與口碑卓越的HiYield系列,這款儀器融合了一體化設計的理念,將眾多高精度的功能模塊集成於一個緊湊的機身之中,不僅節省了寶貴的實驗空間,還通過減少設備間的冗餘連接,顯著提高了整體的穩定性和工作效率。HiYield-QFLS測試功能模塊包括:電緻發光量子效率測量(EL)、光緻發光(材料)QFLS測試(QFLSPL)、電緻發光(器件)QFLS測試(QFLSEL)、QFLSEL成像測試(QFLSEL-mapping)、Pseudo-JV、等效光伏特性測試(Equi-PV)、溫度測試等。

HiYield-QFLS

02

現場回顧

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