東譜科技多功能光電器件測試儀 UltraTran

UltraTran是一款集成了多種光電測試功能的儀器設備，專門針對半導體材料和器件的電學與光電特性進行精確測量，尤其適用於發光（OLED、PeLED等）與光伏器件（OPV、晶矽PV、異質結疊層PV等），該設備核心功能包括：

1）斜坡電壓電流測試（Ramp-IV）、階梯電壓電流測試（Step- IV）和脈衝電壓電流測試（Pulse-IV）。這些測試模式使得用戶能夠以不同的電學激勵方式對樣品進行掃描，從而獲得關於樣品在不同激勵下的電學性質。Ramp-IV以連續的方式提供電壓掃描，適用於捕捉材料響應的連貫變化；Step-IV則以逐步階梯的方式提供電壓，適合觀察材料在不同電壓階躍下的穩態行為；而Pulse-IV通過短時的電壓脈衝，允許研究器件的動力學IV特性，也可以有效減少器件的熱阻，增加器件的最大注入電流。

2）UltraTran還提供了開關瞬態光電流（on-off TPC）和開關瞬態光電壓（on-off TPV）測試，這些功能適合於研究材料在光照激發下的上升和下降過程【瞬態光電流/光電壓/光電荷測試參考我司TranPVC產品】。

3）暗注入瞬態特性測試（DIT）和深能級瞬態譜（DLTS）是可以用於探測和分析半導體中的陷阱和缺陷狀態。DLTS技術尤為擅長於識別和量化材料中的微小缺陷濃度，為改善半導體材料質量提供關鍵信息。

4）設備還支持暗態線性增壓電荷抽取測試（Dark-CELIV）和光態線性增壓電荷抽取測試（Photo-CELIV），這兩種模式能夠測定電荷在半導體內的傳輸和複合機製，得到遷移率等參數。

5）等效電荷抽取測試（CE），可以研究器件的電荷濃度。

6）阻抗譜測試（IS）、電容電壓測試（CV）等功能則為設備增加了額外的維度，使其能夠全面評估材料的阻抗和介電性能。

7）強度調製光電流譜（IMPS）和強度調製光電壓譜（IMVS）為研究者提供了一種獨特的方法來探究材料對光強變化的頻率響應，這對於光伏材料和應用尤為重要。

8）電緻發射譜（ELS）為研究材料的電緻發光特性，得到光譜、色坐標等參數。

UltraTran提供全面的半導體材料與器件表征功能，其核心測試功能涵蓋：

基本電學特性： I-V特性測試、脈衝電壓測試、阻抗譜（IS）。

瞬態與動態分析： ON/OFF TPV/TPC測試、電荷抽取測試（CE）、線性增壓載流子測試（CELIV）、瞬態電緻發光測試（TranEL）、深能級瞬態光譜（DLTS）。

調製光譜技術： 強度調製光電流譜/光電壓譜（IMPS/IMPV）、調製電緻發光光譜（MES）。

UltraTran應用範圍廣泛，主要面向以下領域：

半導體材料與器件：

材料類型： 有機半導體、金屬-有機框架（MOF）、共價有機框架（COF）、鈣鈦礦材料、二維材料、元素半導體（如Si、Ge）、化合物半導體（如InGaAs）、第三代寬帶隙半導體、量子點半導體、其他半導體材料。

器件類型： 光伏材料器件、發光材料器件、光催化材料器件。

核心研究領域： 上述各類半導體材料及其對應的光電器件（光伏器件、發光器件、光催化器件）的性能測試與機理分析。