在光物理、光化學及能源材料研究中，飛秒時間尺度的載流子動力學（如激發態弛豫、能量轉移、電荷分離等）是決定材料性能的核心機製。傳統瞬態吸收光譜技術受限於時間分辨率不足、信號靈敏度低及功能單一等問題，難以精準解析超快過程（如飛秒至皮秒級動態），尤其在多維度條件調控（電場、溫度、光強協同）和複雜體系（如異質結、低維材料）的分析中存在顯著瓶頸。

東譜科技基於前沿超快光學技術，推出FemtoFly超快泵浦探測系統，集飛秒瞬態吸收（TA）、光電協同激發及多維動態分析功能於一體。該系統以飛秒級時間分辨率、寬光譜覆蓋及智能化操作為核心優勢，為光伏材料、量子點、光催化體系及新型半導體器件的超快動力學研究提供高精度、全自動的測試解決方案，助力科研與產業突破時間尺度與空間分辨的技術壁壘。

1. 超快泵浦探測系統（UltrafastPumpProbeSystem）

定義：利用飛秒激光脈衝作為泵浦光和探測光，研究材料在飛秒至納秒時間尺度內動力學行為的實驗系統。

測試原理：泵浦光激發樣品後，通過光學延時線調節探測光與泵浦光的時間延遲，測量吸收或反射信號的瞬態變化，解析超快動力學過程。

2. 泵浦探測（PumpProbe）

定義：通過泵浦光激發樣品，探測光在不同時間延遲下測量響應的實驗技術。

測試原理：泵浦光激發樣品後，調節探測光延遲時間，測量吸收、反射或熒光信號的時域變化。

3. 飛秒激光器（FemtosecondLaser）

定義：產生飛秒級（10^-15秒）超短脈衝的激光器，是超快光譜技術的核心光源。

測試原理：基於鎖模技術產生飛秒脈衝，通過脈衝壓縮與放大提供高能量、超短脈寬的激光輸出。

4. 光學延時線（OpticalDelayLine）

定義：通過改變光路長度調節探測光與泵浦光時間延遲的裝置。

測試原理：移動反射鏡或棱鏡位置改變探測光光程，精確控製時間延遲，實現時間分辨測量。

（一）原理

超快泵浦探測系統（飛秒瞬態吸收）FemtoFly是東譜科技開發的業內首款光電一體飛秒瞬態吸收光譜儀，包括光泵和電泵。系統具有全自動、智能化特征，配備自動光學延時線，軟件成像調節spatialoverlap，提供完善的數據分析軟件。用於光化學、光物理、光催化等過程中的激發態壽命、能量轉移、電子傳遞的表征。主要應用於探究發光材料、光伏材料、光催化材料以及能量上轉換材料等的光物理、光化學過程。

FemtoFly系統基於泵浦探測技術，通過飛秒激光脈衝激發樣品並探測其瞬態吸收變化，實時解析光生載流子的超快動力學行為。結合光電協同激發模塊（支持光泵浦/電泵浦切換），可同步研究電場、光照等多物理場耦合下的載流子輸運與複合機製，為複雜器件體系的機理研究提供多維數據支撐。

（二）技術特點

    FemtoFly超快泵浦探測系統具備<100fs時間分辨率和0–10ns時間範圍，精準捕捉飛秒至納秒級超快過程；支持350–750nm、480–950nm、900–1600nm、1400–2000nm寬光譜多通道覆蓋，適配紫外-可見-近紅外-中紅外全波段分析；采用鎖相放大技術與低噪聲探測器，靈敏度達0.01mOD，可解析單層二維材料、低濃度溶液等微弱信號體系；作為業內首款集成光泵浦與電泵浦功能的飛秒瞬態吸收系統，支持光-電-熱多場協同調控；配備智能光學延時線、空間重疊校準軟件及一鍵式數據分析平台，實現全自動操作，大幅提升實驗效率。 

（三）技術優勢

多維動態調控：支持激光能量（0.1–500μJ）、重複頻率（1kHz–1MHz）、偏置電壓（±10V）、溫度（80K–500K）等多參數協同控製，實時獲取超快動力學隨外界條件的非線性響應。

模塊化擴展：可選配顯微成像系統（空間分辨率1μm）、超低溫恒溫器（4K）、原位反應池及太赫茲探測模塊，滿足極端條件與多尺度表征需求。

數據深度挖掘：內置動力學擬合算法（全局分析、多指數衰減模型），自動生成載流子壽命分布圖、能帶弛豫路徑及缺陷態密度報告。

（四）系統特點及功能參數

系統特點：

FemtoFly系統通過飛秒瞬態吸收（TA）實時監測光生載流子的超快弛豫、熱化及複合過程，精準解析缺陷態與界面效應；支持光泵浦（OP）與電泵浦（EP）模式協同切換，研究電場調控下的載流子輸運行為；可選配顯微模塊實現超快成像與Mapping，以μm級空間分辨率掃描超快動力學的微觀分布；同時集成多維度條件控製功能，同步調節溫度、真空及氣氛環境，適配光催化反應、半導體器件原位測試等複雜實驗場景，為材料與器件的超快動力學研究提供全方位解決方案。

核心功能參數：

1. 時間分辨率<100fs

2. 時間範圍0–10ns

3. 波長範圍350–2000nm（多波段可選）

4. 檢測靈敏度≤0.01mOD（高配模式）

5. 激光脈衝寬度<150fs（可定製阿秒級擴展）

6. 重複頻率1kHz–1MHz（可調）

7. 樣品兼容性薄膜、晶體、溶液、器件原位測試