EL-Lab分布式電緻發光特性測量系統是東譜科技UltralLum綜合發光特性測量平台中的重要成員，與東譜科技的絕對法電緻發光特性測量系統HiYield（請垂詢銷售專員）共同為行業提供了完善的電緻發光的測量方案。EL-Lab系統由一系列相應的分布測量組件組成，包括光電測量模塊、亮度校準模塊、光譜測量模塊等。利用該系統組件的分布特性，可以靈活搭建適用於不同類型器件的測量系統，也可以適應豐富的測量場景，如手套箱測量、變溫測量等。通過相對法的方式，基本上實現了絕對法測量的相應功能，且具備更為豐富的擴展可能可能性。

EL-Lab利用分布式組件實現以下主要功能：1）發光效率參數：外量子效率、電流效率、功率效率等；2）電學參數；3）輻射度學參數；4）光度學參數；5）色度學參數；6）器件老化參數；7）變溫測量等。EL-Lab系統可以應用於量子點發光二極管（QLED）、有機發光二極管（OLED）、發光二極管（LED）、鈣鈦礦發光二極管（PeLED）等各種類型的電緻發光器件。

測量模式：

• 電壓掃描（含分段掃描、循環掃描等）；
  
• 恒壓單點測量；
  
• 恒流單點測量；
  
• 穩定性測量：不同老化時間下測量
  

功能參數類別：

• 效率參數（外量子效率、電流效率、功率效率等）；
  
• 電學參數：電壓（V）、電流（I）、電流密度（J）、電功率（W）、電功率密度等；
  
• 輻射度學：光譜功率分布、輻射通量、光通量、光視效能、峰值波長、主波長等；
  
• 色度學：CIE色度坐標、相關色溫（CCT）、MK-1（mred）、顯色指數（CRI）、RGB顏色值等；
  
• 老化參數。
  
• 變溫測量