FlyTOF 飛行時間法遷移率測量系統

作者：東譜科技瀏覽：發表時間：2021-01-18 09:00:00

FlyTOF

飛行時間法遷移率測量系統

Time-of-Flight Mobility Measurement System

一、系統介紹

FlyTOF飛行時間法遷移率測量系統是東譜科技HiTran瞬態綜合光電特性測量平台中的重要成員。該系統利用飛行時間法(time-of-flight, TOF)測量半導體材料的遷移率以及相關的光電特性，廣泛適用於各類半導體材料，如有機半導體、金屬-有機框架（metal-organic framework, MOF）、共價有機框架（covalent organic framework, COF）、鈣鈦礦材料等。FlyTOF系統是一款高度集成化的光電測試系統，配備便捷的上位機控製和數據測量軟件，可助力客戶進行快速、準確的測量。

二、產品特點

專業的信號調教，電磁兼容噪聲小；
軟件自動控製，測試快速便捷；
快速換樣裝置，惰性氣體氛圍測試；
可實現寬溫度範圍的變溫測試（選配）；
可靈活耦合各種類型的激發光源。
帶位移功能，方便對同一基片上的不同器件進行測試；
所有光路均置於封閉暗箱內，無外界光源影響。

三、系統典型參數表

^*該產品或參數可根據客戶需求靈活配置。

測試示例1

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