絕對法電緻發光特性系統HiYiled-東譜科技

絕對法電緻發光特性測量系統

作者：東譜科技瀏覽：發表時間：2020-11-11 17:00:00

我司絕對法電緻發光特性系統HiYiled完成交付。HiYiled系統的功能實用性，操作便利性等優勢得到用戶的一緻認可。

HiYield絕對法電緻發光特性測量系統是東譜科技UltralLum綜合發光特性測量平台中的重要成員，用於對電緻發光樣品的發光特性進行精確測量。HiYield系統能夠以一流的檢測精度對電緻發光器件進行縱深測量，得到全面的絕對法測量的電緻發光效率參數以及相關的輻射度學、光度學、色度學等參數。該系統配有功能豐富、操作便捷的測試軟件，具有實時測量、預測量、定製測量、掃描測量等豐富的測量模式，圖表和數據實時顯示，可以快速、可靠對樣品的測試過程進行追蹤。HiYield系統可以應用於量子點發光二極管（QLED）、有機發光二極管（OLED）、發光二極管（LED）、鈣鈦礦發光二極管（PeLED）等各種類型的電緻發光器件。

更多產品資料可轉到電緻發光測量系統介紹頁面或谘詢我們的工程師020-66834066。

絕對法電緻發光特性測量系統

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