东谱科技电致发光量子效率测量仪HiYield-EL

电致发光量子效率测量仪HiYield-EL是东谱科技 HiOE 综合发光特性测量平台中的重要成员，用于对电致发光样品的发光特性进行精确测量。HiYield 系统能够以一流的检测精度对电致发光器件进行纵深测量，得到全面的绝对法测量的电致发光效率参数（量子效率EQE等）以及相关的电学、辐射度学、光度学、色度学等参数；同时该系统集成了稳定性测试模块，可以对器件的老化过程进行测试，且同时得到器件老化过程的全面信息，即涵盖了上述发光效率、电学、辐射度学、光度学、色度学等全面参数（通常的老化测试仪，仅对电流、电压和相对亮度进行测试），典型的包括电致发光效率/量子效率EQE、寿命测试、CIE、CRI、CCT、光谱响应、光谱功率分布、IV、JV、总光谱辐射通量、辐射通量、光通量、光效、光谱强度、峰值波长、FHWM等，广泛应用于各种类型的电致发光器件测量。

• 能够以一流的检测精度对电致发光器件进行纵深测量，得到全面的绝对法测量的电致发光效率参数（外量子效率等）以及相关的电学、辐射度学、光度学、色度学等参数；
  
  
• 集成了稳定性测试模块，可以对器件的老化过程进行测试，且同时得到器件老化过程的全面信息，即涵盖了上述发光效率、电学、辐射度学、光度学、色度学等全面参数（通常的老化测试仪，仅对电流、电压和相对亮度进行测试）；
  
  
• 由软件控制测试过程，操作便捷，图表和数据实时显示；
  
  
• 可快速、可靠对样品的测试过程进行追踪；
  
  
• 具有实时测量、预测量、定制测量、扫描测量、时间依赖测量等丰富的测量模式。
  

HiYield-EL具备全面的光电性能测试能力。在测量参数方面，可获取多种效率参数（如发光效率/外量子效率EQE、电流效率、功率效率）、电学参数（如电压V、电流I、电流密度J、电功率W、电功率密度）、辐射度学参数（如光谱功率分布、辐射通量、光通量、光视效能、峰值波长、主波长）以及色度学参数（如CIE色度坐标、相关色温CCT、MK-1(mred)、显色指数CRI、RGB颜色值），同时支持稳定性测试。

HiYield-EL提供多种测量模式以满足不同测试需求：包括电压扫描（含分段扫描、循环扫描等）、电流扫描（含分段扫描、循环扫描等）、恒压单点测量、恒流单点测量以及稳定性测量（可在不同老化时间点进行测量）。

HiYield-EL产品应用范围广泛，主要面向各类电致发光器件的测试，包括：量子点发光二极管（QLED）、有机发光二极管（OLED）、发光二极管（LED）、钙钛矿发光二极管（PeLED）以及其他各种类型的电致发光器件。