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多通道电致发光特性测量系统 EL-Lab

利用该系统组件的分布特性,可以灵活搭建适用于不同类型器件的测量系统。该系统可以便捷地扩展测量通道数量,且可以为不同的测试通道配备相同或者差异的测试功能,从而可以适应丰富的测量场景,如批量测量、手套箱测量、变温测量、老化测量等。

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产品关键词:多通道电致器件稳定性测试、多通道电致器件寿命测试、多通道电致器件老化 、器件寿命测试、电致发光器件老化系统、OLED寿命测试系统、多通道OLED器件寿命测试系统、多通道发光器件稳定性测量仪、多通道老化测试系统、多通道OLED稳定性测试系统、有机发光二极管(OLED)寿命测量系统


Product Keywords: Multi-channel electroinduced device stability test, multi-channel electroinduced device life Test, multi-channel electroinduced device aging, device life test, electroluminescent device aging system, OLED lifetime test system, multi-channel OLED device life Test system, multi-channel light-emitting device stability measuring instrument, multi-channel aging test system, multi-channel OLED stability test system Organic light-emitting diode (OLED) life measurement system


产品简介

多通道电致发光特性测量系统EL-Lab是东谱科技 HiOE 综合发光特性测量平台中的重要成员,与东谱科技的绝对法电致发光特性测量系统 HiYield 共同为行业提供了完善的电致发光的测量方案。该系统由一系列相应的分布测量组件组成,包括光电测量模块、亮度校准模块、光谱测量模块等。利用该系统组件的分布特性,可以灵活搭建适用于不同类型器件的测量系统。该系统可以便捷地扩展测量通道数量,且可以为不同的测试通道配备相同或者差异的测试功能,从而可以适应丰富的测量场景,如批量测量、手套箱测量、变温测量、老化测量等。

 产品特点

□ 多通道批量测量;

□ 便捷扩展测量通道数量;支持不同的测试通道配备相同或者差异的测试功能;独立控温、一体式控温;软件选择快速判断待测器件IV特性;恒流、恒压、恒功率、恒EQE、恒亮度等多种老化模式;

□ 测试功能(IV、IVL、 IVλ );

□ V-t、I-t、L-t、J-t、W-t、PE-t、EQE-t、CE-t、PEt、CIE-t、λ-t、CCT-t、CRI-t、RGB-t等;

□ 可放进手套箱内测试;

□ 支持长时间的多个器件的老化测试;

□ 支持宽温度范围的变温测试;

□ 全面的电致发光测量参数。

关于测试通道:可灵活定制不同数量的测试通道和功能,如:

■ 总测试通道:6 个

■ IVL 测试通道:5 个

■ 光谱测试通道:1 个

■ 老化(稳定性)测试通道:5 个

■ 变温测试通道:选配

产品功能

□ 发光效率参数:外量子效率、电流效率、功率效率等;

□ 电学参数:电压(V)、电流(I)、电流密度(J)、电功率密度等;

□ 辐射度学参数: 光谱功率分布、辐射通量、光视效能、主波长等 ;

□ 光度学参数:亮度、光通量等;

□ 色度学参数: CIE 色度坐标、相关色温(CCT)、MK-1、显色指数等 ;

□ 器件老化参数:不同老化时间下的上述参数;

□ 变温测量等。

规格参数

光电测量模块光谱测试模块
波长范围350-1100 nm波长范围200-1100 nm
峰值波长970 nm积分时间3.8 ms – 10 s
灵敏度 0.725 A/W动态范围3.4 x 10 ^6 (system); 1300:1 for a single acquisition
有源面积100 mm^2杂散光<0.05% at 600 nm; <0.10% at 435 nm
上升/下降时间65 ns(632 nm, RL=50Ω, 5V)光学分辨率~1.5 nm(FWHM)
噪声等效功率2.07x10-13 W/√Hz(970 nm, 5 V)源表
暗电流600 nA (Max. 5V)参数

电压范围-20 V~20 V;电流范围-120 mA~120 mA;

分辨率 100 pA/0.1 mV

结电容 375 pF (Typ. 5V)




产品应用

□ 量子点发光二极管(QLED);

□ 有机发光二极管(OLED);

□ 发光二极管(LED);

□ 钙钛矿发光二极管(PeLED);

□ 其它各种类型的电致发光器件。




多通道电致发光特性测量系统 EL-Lab
利用该系统组件的分布特性,可以灵活搭建适用于不同类型器件的测量系统。该系统可以便捷地扩展测量通道数量,且可以为不同的测试通道配备相同或者差异的测试功能,从而可以适应丰富的测量场景,如批量测量、手套箱测量、变温测量、老化测量等。
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