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多通道电致发光特性测量系统 EL-Lab

利用该系统组件的分布特性，可以灵活搭建适用于不同类型器件的测量系统。该系统可以便捷地扩展测量通道数量，且可以为不同的测试通道配备相同或者差异的测试功能，从而可以适应丰富的测量场景，如批量测量、手套箱测量、变温测量、老化测量等。

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产品简介

多通道电致发光特性测量系统EL-Lab是一款多通道电致发光器件测试与寿命分析平台，用于同步监测OLED、LED及新型发光器件的电学、亮度和衰减特性。系统主要用于提高器件配方、封装和驱动条件的并行筛选效率。该设备是东谱科技 HiOE 综合发光特性测量平台中的重要成员，与东谱科技的绝对法电致发光特性测量系统 HiYield 共同为行业提供了完善的电致发光的测量方案。该系统由一系列相应的分布测量组件组成，包括光电测量模块、亮度校准模块、光谱测量模块等。利用该系统组件的分布特性，可以灵活搭建适用于不同类型器件的测量系统。该系统可以便捷地扩展测量通道数量，且可以为不同的测试通道配备相同或者差异的测试功能，从而可以适应丰富的测量场景，如批量测量、手套箱测量、变温测量、老化测量等。

 产品特点

□ 多通道批量测量；

□ 便捷扩展测量通道数量；支持不同的测试通道配备相同或者差异的测试功能；独立控温、一体式控温；软件选择快速判断待测器件IV特性；恒流、恒压、恒功率、恒EQE、恒亮度等多种老化模式；

□ 测试功能（IV、IVL、 IVλ ）；

□ V-t、I-t、L-t、J-t、W-t、PE-t、EQE-t、CE-t、PEt、CIE-t、λ-t、CCT-t、CRI-t、RGB-t等；

□ 可放进手套箱内测试；

□ 支持长时间的多个器件的老化测试；

□ 支持宽温度范围的变温测试；

□ 全面的电致发光测量参数；

□ 采用多通道并行测量架构，可对多个发光器件同步开展电学、亮度和稳定性测试；

□ 光电测量模块响应波长覆盖350-1100 nm，可覆盖可见光及近红外发光器件；

□ 亮度测试范围覆盖50-20000 cd/m2，并具备1 mV级电压测量分辨率；

□ 将器件驱动、光电检测和长期数据记录集成，支持器件老化与性能衰减分析。

关于测试通道：可灵活定制不同数量的测试通道和功能，如：

■ 总测试通道：6 个

■ IVL 测试通道：5 个

■ 光谱测试通道：1 个

■ 老化（稳定性）测试通道：5 个

■ 变温测试通道：选配

产品功能

□ 发光效率参数：外量子效率、电流效率、功率效率等；

□ 电学参数：电压（V）、电流（I）、电流密度（J）、电功率密度等；

□ 辐射度学参数： 光谱功率分布、辐射通量、光视效能、主波长等 ；

□ 光度学参数：亮度、光通量等；

□ 色度学参数： CIE 色度坐标、相关色温（CCT）、MK-1、显色指数等 ；

□ 器件老化参数：不同老化时间下的上述参数；

□ 变温测量等。

规格参数

光电测量模块

光谱测试模块

波长范围

350-1100 nm

波长范围

200-1100 nm

峰值波长

970 nm

积分时间

3.8 ms – 10 s

灵敏度 

0.725 A/W

动态范围

3.4 x 10 ^6 (system); 1300:1 for a single acquisition

有源面积

100 mm^2

杂散光

<0.05% at 600 nm; <0.10% at 435 nm

上升/下降时间

65 ns(632 nm, RL=50Ω, 5V)

光学分辨率

~1.5 nm(FWHM)

噪声等效功率

2.07x10-13 W/√Hz（970 nm, 5 V）

源表

暗电流

600 nA (Max. 5V)

参数

电压范围-20 V~20 V；电流范围-120 mA~120 mA；

分辨率 100 pA/0.1 mV

结电容 

375 pF (Typ. 5V)

产品应用

□ 量子点发光二极管（QLED）；

□ 有机发光二极管（OLED）；

□ 发光二极管（LED）；

□ 钙钛矿发光二极管（PeLED）；

□ 其它各种类型的电致发光器件。

专业名词解析

IVL测试： IVL测试同步记录发光器件的电流、电压和亮度关系，用于分析开启电压、亮度增长、效率和工作状态。器件有效面积、光学收集方式和驱动模式会影响结果；

LT50寿命： LT50通常表示发光器件亮度衰减到初始亮度50%所需的时间。寿命比较必须统一初始亮度、驱动模式、环境、器件面积和寿命外推方法；

效率滚降： 效率滚降是发光器件效率在高电流密度或高亮度下下降的现象。其成因可能涉及激子湮灭、电荷失衡、漏电和热效应，需要结合电学、光谱和瞬态数据判断；

多通道一致性： 多通道一致性描述不同测试通道在相同输入条件下的测量差异。长期老化实验需定期核对电流、电压、亮度和温度通道，避免把通道漂移误判为器件衰减；

恒流与恒压老化： 恒流老化固定器件电流，恒压老化固定器件电压，两种方式对应不同的工作应力。选择驱动模式时应与实际应用场景和失效机理研究目标一致。

常见问题

EL-Lab是一款多通道电致发光器件测试与寿命分析平台，用于同步监测OLED、LED及新型发光器件的电学、亮度和衰减特性。理解EL-Lab时，重点关注IVL测试、LT50寿命、效率滚降、多通道一致性和恒流与恒压老化。OLED、QLED和PeLED的衰减速度与驱动电流和初始亮度强相关。只有在一致驱动模式、初始亮度、器件面积和环境下，LT50等寿命指标才可比较。

1. 问：EL-Lab是什么设备，核心测量或功能是什么？

答：EL-Lab是一款多通道电致发光器件测试与寿命分析平台，用于同步监测OLED、LED及新型发光器件的电学、亮度和衰减特性。采用多通道并行测量架构，可对多个发光器件同步开展电学、亮度和稳定性测试。开展实验前，应先明确希望比较的指标、工作条件和数据输出，再据此设计EL-Lab的测量流程。

2. 问：IVL测试是什么？

答：IVL测试同步记录发光器件的电流、电压和亮度关系，用于分析开启电压、亮度增长、效率和工作状态。器件有效面积、光学收集方式和驱动模式会影响结果。

3. 问：如何正确理解LT50寿命，常见误区是什么？

答：LT50通常表示发光器件亮度衰减到初始亮度50%所需的时间。寿命比较必须统一初始亮度、驱动模式、环境、器件面积和寿命外推方法。常见误区是只比较最终数值，却忽略测试条件、校准状态或样品差异。使用EL-Lab进行跨样品比较时，应保证关键条件一致并报告不确定度。

4. 问：发光器件寿命研究为什么必须统一初始亮度？

答：OLED、QLED和PeLED的衰减速度与驱动电流和初始亮度强相关。只有在一致驱动模式、初始亮度、器件面积和环境下，LT50等寿命指标才可比较。

5.问：EL-Lab测试中，哪些实验条件最影响结果？

答：寿命比较需统一驱动模式、初始亮度、器件面积和环境条件。还应记录与LT50寿命和多通道一致性相关的设置，因为这些条件可能改变信号幅值、时间尺度、空间分布或计算结果。缺少条件记录时，即使曲线外观相似，也不宜直接比较。

6. 问：如何提高EL-Lab数据的重复性和跨样品可比性？

答：多通道测试应定期核对通道间电学与亮度一致性。建议设置空白、标准样品或重复样品，固定采集设置、校准方式和数据处理流程，并保留原始数据与完整元数据。批量测试还应监测系统随时间的漂移。

7. 问：针对效率滚降，怎样设计一组更容易复核的实验？

答：先固定样品制备和EL-Lab的基础采集条件，再只改变一个目标变量；随后进行重复测量、条件反转或对照实验，并检查原始数据是否支持同一趋势。若效率滚降的解释依赖模型，应同时报告模型假设、拟合残差和参数不确定度。

8. 问：多通道一致性为什么容易造成误判？如何排查？

答：多通道一致性描述不同测试通道在相同输入条件下的测量差异。长期老化实验需定期核对电流、电压、亮度和温度通道，避免把通道漂移误判为器件衰减。排查时可从仪器校准、背景与空白、信号强度依赖、时间或空间重复性四个方面入手。只有误差来源被控制后，EL-Lab结果才适合用于机理讨论。

9. 问：恒流与恒压老化与当前研究热点有什么关系？

答：恒流老化固定器件电流，恒压老化固定器件电压，两种方式对应不同的工作应力。选择驱动模式时应与实际应用场景和失效机理研究目标一致。该问题连接EL-Lab测量与当前科研中的性能比较、过程追踪或可靠性评价。报告结果时，应给出明确实验条件和判断边界，避免把相关性写成因果关系。

10. 问：研究人员解读EL-Lab结果时，如何避免过度结论？

答：应先确认测试条件与方法假设，再结合效率滚降、多通道一致性及独立表征交叉判断。单一数值、单张图谱或一次测试通常不足以支持完整机理结论；重复实验、对照组和原始数据质量比结论措辞更重要。

产品关键词：多通道电致器件稳定性测试、多通道电致器件寿命测试、多通道电致器件老化 、器件寿命测试、电致发光器件老化系统、OLED寿命测试系统、多通道OLED器件寿命测试系统、多通道发光器件稳定性测量仪、多通道老化测试系统、多通道OLED稳定性测试系统、有机发光二极管(OLED)寿命测量系统

Product Keywords: Multi-channel electroinduced device stability test, multi-channel electroinduced device life Test, multi-channel electroinduced device aging, device life test, electroluminescent device aging system, OLED lifetime test system, multi-channel OLED device life Test system, multi-channel light-emitting device stability measuring instrument, multi-channel aging test system, multi-channel OLED stability test system Organic light-emitting diode (OLED) life measurement system

多通道电致发光特性测量系统 EL-Lab
利用该系统组件的分布特性，可以灵活搭建适用于不同类型器件的测量系统。该系统可以便捷地扩展测量通道数量，且可以为不同的测试通道配备相同或者差异的测试功能，从而可以适应丰富的测量场景，如批量测量、手套箱测量、变温测量、老化测量等。
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