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电致发光测量仪 NovaLum

电致发光测量仪NovaLum包括IVL测试、器件寿命测试、空间角度分布测试等功能，适用于电致发光样品电致发光效率（电流效率、功率效率、外量子效率等）、光度学、色度学、稳定性、发光角度分布等相关性能参数的精确测量。该测量仪很好地解决了行业上：（1）利用分光辐射度计测试时，存在低亮度测试速度慢、高亮度过曝的问题，从而不能用于易老化器件的测试，也不适宜用于宽亮度范围的器件测试；（2）利用积分球系统测试时，无法得到准确的前向亮度参数，且高亮度时也存在过曝问题，不能对强发光样品进行测试等的问题。

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产品关键词：电致发光测试仪、电致发光量子效率测量系统、外量子效率测量系统、光谱功率分布（λ）测量系统、电功率密度测量系统、发光特性测试系统、电致发光量子效率测试系统、发光量子产率测量系统、光电特性测试、量子产率测量仪、积分球光谱测试仪、发光特性测量仪、IVLλ 、有机发光二极管综合性能测试系统、绝对量子效率测试仪、量子效率测试系统


Product Keywords: Electroluminescence tester, electroluminescence Quantum efficiency Measurement System, External Quantum Efficiency Measurement System, Spectral Power Distribution (λ) measurement system, electric power density measurement system, Luminescence characteristic test system, Electroluminescence quantum Efficiency Test System, Luminescence quantum Yield Measurement System, photoelectric characteristic test, quantum Yield measurement instrument, integrating sphere Spectrum tester, Luminescence characteristic measurement instrument, IVLλ, organic light-emitting diode comprehensive performance test system, absolute quantum efficiency tester, quantum efficiency test system


产品简介

电致发光测量系统NovaLum是东谱科技HiOE稳态综合光电特性测量平台中的重要成员，用于对电致发光样品的性能进行精确测量。该系统包括IVL测试、器件寿命测试、空间角度分布测试等功能，可以便捷、快速地得到电致发光器件全面的性能参数，如电致发光效率（电流效率、功率效率、外量子效率等）、光度学、色度学、稳定性、发光角度分布等相关性能参数。该设备很好地解决了行业上：（1）利用分光辐射度计测试时，存在低亮度测试速度慢、高亮度过曝的问题，从而不能用于易老化器件的测试，也不适宜用于宽亮度范围的器件测试；（2）利用积分球系统测试时，无法得到准确的前向亮度参数，且高亮度时也存在过曝问题，不能对强发光样品进行测试等的问题。

产品特点

□ 可以得到准确的亮度，因而适宜OLED、钙钛矿LED、量子点LED、显示屏等面光源的测量。

□ 高度集成化，自动对焦和观察、自动位移、自动子器件切换；

□ IV、IVλ、IVL、IVLλ、发光角度分布；

□ 外量子效率EQE、电流效率、功率效率等；

□ CIE、CCT、MK-1（mred）、CRI、RGB颜色值、峰值波长等；

□ L-t、EQE-t、V-t、J-t、 λ-t 、CE-t、LE-t、PE-t、CIE-t曲线等；

□ 二维成像Mapping（MicroLED、微纳器件、多像素阵列）；

□ 配备自动化的角度分辨测试功能，可以快速得到样品发光的空间分布特性；

□ 配备了稳定性测试功能，进行老化测试，具有宽的亮度检测范围（<1cd/m^2 ~999900 cd/m^2 ）；

□ 可以进行各种环境的测试，如气体氛围、器件不封装转移测试等，同时可以实现手套箱内快速换样测试；

□ 配备自动对焦和观察、自动位移、自动子器件切换等系统，可以极大地提升测试效率。

产品功能

□ 多种扫描模式：电压扫描、电流扫描、角度扫描、时间扫描。 

□ 分段循环电流、电压扫描：可以研究器件的迟滞效应等。

□ 实时测量：可以实时单点测量，灵活判断器件的工作情况。 

□ 两线/四线测量：四线测量可更加准确地测量器件的电流电压。 

□ 自动切换器件：通过软件选择测量的子器件。

□ 自动积分时间：避免因为亮度过低导致测不出信号、或亮度过高导致的过曝的问题。

□ 配备可视化实时观察及位移系统：在软件中可以实时观察到器件的表面发光情况，可软件操作对焦。

□ 自动保存数据：测量过程中自动保存数据，避免数据丢失等状况。

规格参数

亮度测量
光谱测量
亮度范围0.01~9,999,000 cd/m^2波长范围200-850nm 或者 350-1000nm
测试角1/3°积分时间4 ms - 10 s
视角9°动态范围1300:1
相对光谱敏感度匹配 CIE 光谱发光效率函数 V (λ)校准线性度>99.8%
最小测量面积 Ø 4.5 mm (0.4mm)光学分辨率~1.5 nm (FWHM)
最短测量距离 1012mm (213mm)电流电压测量
测量时间

AUTO：0.7~4.3 s

电压范围/分辨率-210V~210V/100nV
MANUAL：0.7~7.1 s电流范围 /分辨率-1.05A~1.05A/1pA

产品应用

□ 量子点发光二极管（QLED）

□ 有机发光二极管（OLED）

□ 发光二极管（LED）

□ 钙钛矿发光二极管（PeLED）

□ 其它各种类型的电致发光器件

测试案例

LED器件测试示例
显示屏测试示例





电致发光测量仪 NovaLum
电致发光测量仪NovaLum包括IVL测试、器件寿命测试、空间角度分布测试等功能，适用于电致发光样品电致发光效率（电流效率、功率效率、外量子效率等）、光度学、色度学、稳定性、发光角度分布等相关性能参数的精确测量。该测量仪很好地解决了行业上：（1）利用分光辐射度计测试时，存在低亮度测试速度慢、高亮度过曝的问题，从而不能用于易老化器件的测试，也不适宜用于宽亮度范围的器件测试；（2）利用积分球系统测试时，无法得到准确的前向亮度参数，且高亮度时也存在过曝问题，不能对强发光样品进行测试等的问题。
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