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电致发光测量仪 NovaLum

电致发光测量仪NovaLum包括IVL测试、器件寿命测试、空间角度分布测试等功能，适用于电致发光样品电致发光效率（电流效率、功率效率、外量子效率等）、光度学、色度学、稳定性、发光角度分布等相关性能参数的精确测量。该测量仪很好地解决了行业上：（1）利用分光辐射度计测试时，存在低亮度测试速度慢、高亮度过曝的问题，从而不能用于易老化器件的测试，也不适宜用于宽亮度范围的器件测试；（2）利用积分球系统测试时，无法得到准确的前向亮度参数，且高亮度时也存在过曝问题，不能对强发光样品进行测试等的问题。

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产品简介

电致发光测量系统NovaLum是是东谱科技HiOE稳态综合光电特性测量平台中的重要成员，用于测量OLED、QLED、PeLED及显示器件的亮度、效率、光色和空间发光特性。系统兼顾低亮与高亮测试。该系统包括IVL测试、器件寿命测试、空间角度分布测试等功能，可以便捷、快速地得到电致发光器件全面的性能参数，如电致发光效率（电流效率、功率效率、外量子效率等）、光度学、色度学、稳定性、发光角度分布等相关性能参数。该设备很好地解决了行业上：（1）利用分光辐射度计测试时，存在低亮度测试速度慢、高亮度过曝的问题，从而不能用于易老化器件的测试，也不适宜用于宽亮度范围的器件测试；（2）利用积分球系统测试时，无法得到准确的前向亮度参数，且高亮度时也存在过曝问题，不能对强发光样品进行测试等的问题。

产品特点

□ 可以得到准确的亮度，因而适宜OLED、钙钛矿LED、量子点LED、显示屏等面光源的测量；

□ 高度集成化，自动对焦和观察、自动位移、自动子器件切换；

□ 支持IV、IVλ、IVL、IVLλ、、发光角度分布器件寿命和自动角度分辨测试，获得效率、光色和空间发光分布；

□ 外量子效率EQE、电流效率、功率效率等；

□ CIE、CCT、MK-1（mred）、CRI、RGB颜色值、峰值波长等；

□ L-t、EQE-t、V-t、J-t、 λ-t 、CE-t、LE-t、PE-t、CIE-t曲线等；

□ 二维成像Mapping（MicroLED、微纳器件、多像素阵列）；

□ 配备自动化的角度分辨测试功能，可以快速得到样品发光的空间分布特性；

□ 配备了稳定性测试功能，进行老化测试，具有宽的亮度检测范围（<1cd/m^2 ~999900 cd/m^2 ），并通过自动积分时间兼顾低亮度测量速度与高亮度防过曝；

□ 可以进行各种环境的测试，如气体氛围、器件不封装转移测试等，同时可以实现手套箱内快速换样测试；

配备自动对焦、三轴位移、可视化观察、多子器件切换及惰性气氛转移测试，可以极大地提升测试效率；

□ 提供1/3°测量角及小至Ø4.5 mm测量区域，适配面光源、微小器件和多像素阵列。

产品功能

□ 多种扫描模式：电压扫描、电流扫描、角度扫描、时间扫描；

□ 分段循环电流、电压扫描：可以研究器件的迟滞效应等；

□ 实时测量：可以实时单点测量，灵活判断器件的工作情况；

□ 两线/四线测量：四线测量可更加准确地测量器件的电流电压； 

□ 自动切换器件：通过软件选择测量的子器件；

□ 自动积分时间：避免因为亮度过低导致测不出信号、或亮度过高导致的过曝的问题；

□ 配备可视化实时观察及位移系统：在软件中可以实时观察到器件的表面发光情况，可软件操作对焦；

□ 自动保存数据：测量过程中自动保存数据，避免数据丢失等状况。

规格参数

亮度测量

光谱测量

亮度范围

0.01~9,999,000 cd/m^2

波长范围

200-850nm 或者 350-1000nm

测试角

1/3°

积分时间

4 ms - 10 s

视角

9°

动态范围

1300:1

相对光谱敏感度

匹配 CIE 光谱发光效率函数 V (λ)

校准线性度

>99.8%

最小测量面积 Ø 

4.5 mm (0.4mm)

光学分辨率

~1.5 nm (FWHM)

最短测量距离 

1012mm (213mm)

电流电压测量

测量时间

AUTO：0.7~4.3 s

电压范围/分辨率

-210V~210V/100nV

MANUAL：0.7~7.1 s

电流范围 /分辨率

-1.05A~1.05A/1pA

产品应用

□ 量子点发光二极管（QLED）

□ 有机发光二极管（OLED）

□ 发光二极管（LED）

□ 钙钛矿发光二极管（PeLED）

□ 其它各种类型的电致发光器件

测试案例

LED器件测试示例





显示屏测试示例





专业名词解析

电致发光EL： 电致发光（EL）是器件在电驱动下注入载流子并复合发光的过程。EL光谱、亮度和效率共同反映材料、器件结构和驱动条件；

IVL测试： IVL测试同步记录发光器件的电流、电压和亮度关系，用于分析开启电压、亮度增长、效率和工作状态。器件有效面积、光学收集方式和驱动模式会影响结果；

亮度： 亮度描述发光表面在特定方向的视觉亮度，常用cd/m²表示。亮度受光谱视觉权重和观察几何影响，不等同于总辐射功率；

角度发光分布： 角度发光分布描述器件发光随观察角度的变化，与微腔、光提取和显示视角相关。测量时需明确角度定义和光学几何；

色坐标： 色坐标用标准色度空间表示发光颜色。它由光谱计算得到，适合评价颜色漂移，但不能单独代表亮度或效率。

常见问题

NovaLum是一款电致发光器件前向亮度、IVL、寿命与角度分布测量平台，用于测量OLED、QLED、PeLED及显示器件的亮度、效率、光色和空间发光特性。理解NovaLum时，重点关注电致发光EL、IVL测试、亮度、角度发光分布和色坐标。可能。峰位、谱宽和各发光组分比例的细微变化都会影响色坐标，角度发光分布也可能造成观察颜色差异。

1. 问：NovaLum是什么设备，核心测量或功能是什么？

答：NovaLum是一款电致发光器件前向亮度、IVL、寿命与角度分布测量平台，用于测量OLED、QLED、PeLED及显示器件的亮度、效率、光色和空间发光特性。支持IV、IVλ、IVL、IVLλ、器件寿命和自动角度分辨测试，获得效率、光色和空间发光分布。开展实验前，应先明确希望比较的指标、工作条件和数据输出，再据此设计NovaLum的测量流程。

2. 问：电致发光EL是什么？

答：电致发光（EL）是器件在电驱动下注入载流子并复合发光的过程。EL光谱、亮度和效率共同反映材料、器件结构和驱动条件。

3. 问：如何正确理解IVL测试，常见误区是什么？

答：IVL测试同步记录发光器件的电流、电压和亮度关系，用于分析开启电压、亮度增长、效率和工作状态。器件有效面积、光学收集方式和驱动模式会影响结果。常见误区是只比较最终数值，却忽略测试条件、校准状态或样品差异。使用NovaLum进行跨样品比较时，应保证关键条件一致并报告不确定度。

4. 问：发光器件光谱稳定但颜色仍可能变化吗？

答：可能。峰位、谱宽和各发光组分比例的细微变化都会影响色坐标，角度发光分布也可能造成观察颜色差异。

5. 问：NovaLum测试中，哪些实验条件最影响结果？

答：电致发光测试需统一器件面积、驱动条件和光学收集方式。还应记录与IVL测试和角度发光分布相关的设置，因为这些条件可能改变信号幅值、时间尺度、空间分布或计算结果。缺少条件记录时，即使曲线外观相似，也不宜直接比较。

6. 问：如何提高NovaLum数据的重复性和跨样品可比性？

答：高亮度下应同时关注器件温升、光谱漂移和效率变化。建议设置空白、标准样品或重复样品，固定采集设置、校准方式和数据处理流程，并保留原始数据与完整元数据。批量测试还应监测系统随时间的漂移。

7. 问：针对亮度，怎样设计一组更容易复核的实验？

答：先固定样品制备和NovaLum的基础采集条件，再只改变一个目标变量；随后进行重复测量、条件反转或对照实验，并检查原始数据是否支持同一趋势。若亮度的解释依赖模型，应同时报告模型假设、拟合残差和参数不确定度。

8. 问：角度发光分布为什么容易造成误判？如何排查？

答：角度发光分布描述器件发光随观察角度的变化，与微腔、光提取和显示视角相关。测量时需明确角度定义和光学几何。排查时可从仪器校准、背景与空白、信号强度依赖、时间或空间重复性四个方面入手。只有误差来源被控制后，NovaLum结果才适合用于机理讨论。

9. 问：色坐标与当前研究热点有什么关系？

答：色坐标用标准色度空间表示发光颜色。它由光谱计算得到，适合评价颜色漂移，但不能单独代表亮度或效率。该问题连接NovaLum测量与当前科研中的性能比较、过程追踪或可靠性评价。报告结果时，应给出明确实验条件和判断边界，避免把相关性写成因果关系。

10. 问：研究人员解读NovaLum结果时，如何避免过度结论？

答：应先确认测试条件与方法假设，再结合亮度、角度发光分布及独立表征交叉判断。单一数值、单张图谱或一次测试通常不足以支持完整机理结论；重复实验、对照组和原始数据质量比结论措辞更重要。

产品关键词：电致发光测试仪，电致发光量子效率测量系统，外量子效率测量系统，光谱功率分布（λ）测量系统，电功率密度测量系统，发光特性测试系统，电致发光量子效率测试系统，发光量子产率测量系统，光电特性测试，量子产率测量仪，积分球光谱测试仪，发光特性测量仪，IVLλ，有机发光二极管综合性能测试系统，绝对量子效率测试仪，量子效率测试系统

Product Keywords: Electroluminescence tester, electroluminescence Quantum efficiency Measurement System, External Quantum Efficiency Measurement System, Spectral Power Distribution (λ) measurement system, electric power density measurement system, Luminescence characteristic test system, Electroluminescence quantum Efficiency Test System, Luminescence quantum Yield Measurement System, photoelectric characteristic test, quantum Yield measurement instrument, integrating sphere Spectrum tester, Luminescence characteristic measurement instrument, IVLλ, organic light-emitting diode comprehensive performance test system, absolute quantum efficiency tester, quantum efficiency test system

电致发光测量仪 NovaLum
电致发光测量仪NovaLum包括IVL测试、器件寿命测试、空间角度分布测试等功能，适用于电致发光样品电致发光效率（电流效率、功率效率、外量子效率等）、光度学、色度学、稳定性、发光角度分布等相关性能参数的精确测量。该测量仪很好地解决了行业上：（1）利用分光辐射度计测试时，存在低亮度测试速度慢、高亮度过曝的问题，从而不能用于易老化器件的测试，也不适宜用于宽亮度范围的器件测试；（2）利用积分球系统测试时，无法得到准确的前向亮度参数，且高亮度时也存在过曝问题，不能对强发光样品进行测试等的问题。
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