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连续半导体光源 Stea

Stea系列是CW连续半导体光源，具有稳定性好、高输出功率、可耦合光纤等特点，可用于荧光量子效率、探测器响应、光电导等测试功能，常用于研究荧光粉、染料、有机半导体、钙钛矿、量子点等。

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产品简介

Pina、NanoQ、Mic、Tuna、Stea是东谱科技面向高端光学应用推出的新一代紧凑型半导体光源，它们均包含基于半导体激光器和LED技术的两个系列。这些产品，从频域上，覆盖了紫外–可见–近红外的宽波段；从脉冲宽度上，覆盖了皮秒、纳秒、微秒、脉宽可调、连续的工作模式。同时，均搭载同步触发输出和灵活的外部触发输入功能，既可以作为单独激光模组使用，灵活搭建空间光路，实现客户个性化的需求；也可以与各种光谱仪和光纤系统进行耦合。Stea系列是CW连续半导体光源，具有稳定性好、高输出功率、可耦合光纤等特点，可用于荧光量子效 率、探测器响应、光电导等测试功能，常用于研究荧光粉、染料、有机半导体、钙钛矿、量子点等。

产品特点

□ 盖紫外-可见-近红外波段； 

□ 输出功率可调；

□可视界面，易于操作； 

□ 体积紧凑； 

□ 光纤耦合；

□ 功率稳定。

□ 提供连续光输出，可与光谱仪、光纤系统和样品测试平台耦合；

□ 用于稳态PL、吸收、光电流和响应度等实验中的激发或照明；

□ 半导体光源便于小型化、外部调制和多波长配置。

技术参数

Stea系列（255-420nm）

型号

中心波长 [λ,nm] 

光谱线宽[Δλ,nm]

平均功率[mW]

Stea255

255

<15

0.05

Stea265A

265

<15

0.05

Stea265B

265

<15

0.02

Stea280

280

<15

0.02

Stea310A

310

<15

0.2

Stea310B

310

<15

5

Stea340A

340

<15

0.12

Stea340B

340

<15

6.5

Stea365A

365

<15

1

Stea365B

365

<15

50

Stea375A

375

<15

2

Stea375B

375

<15

22

Stea395A

395

<15

4

Stea395B

395

<15

50

Stea405A

405

<15

50

Stea405B

405

<15

50

Stea420

420


50

Stea系列（405-1550nm）

型号

中心波长 [λ,nm]

光谱线宽 [Δλ,nm]

平均功率 [mW]

Stea405A

405

<10

10

Stea405B

405

<10

50

Stea450A

450

<10

8

Stea450B

450

<10

50

Stea515

515

<10

3.5

Stea520A

520

<10

2

Stea520B

520

<10

8

Stea635A

635

<10

2.5

Stea635B

635

<10

50

Stea650A

650

<10

10

Stea650B

650

<10

20

Stea660

660

<10

20

Stea680

680

<10

0.9

Stea780A

780

<10

1

Stea780B

780

<10

8

Stea808A

808

<10

5

Stea808B

808

<10

30

Stea820

820

<10

20

Stea830A

830

<10

5

Stea830B

830

<10

21

Stea850A

850

<10

50

Stea850B

850

<10

50

Stea905

905

<10

5

Stea980A

980

<10

20

Stea980B

980

<10

20

Stea1064A

1064

<10

5

Stea1064B

1064

<10

20

Stea1490

1495

<10

0.5

Stea1550

1550

<10

0.5

功率等级

Class 3

供电

电压：15V,电流：1.2A

联锁输入

SMA

钥匙开关

有

底部装配孔

M6*1, M4*2

工作温度

0~60℃

冷却

自然冷却

尺寸

整体：150mm 长*75mm 宽*60mm 高圆筒：Ø30mm x 38mm

重量

685g

选配件

1. 符合SMA/FC结构标准的光纤耦合件；

2. 激光器安装支架；

3. 多功能控制器及电脑软件；

4. 更多可选配波长请咨询销售专员。

*每款产品出厂前都需仔细调教，具体参数以出厂报告为准。


专业名词解析

连续光源： 连续光源提供时间上连续的光输出，常用于稳态光谱、PLQY、光电响应和照明测试。其稳定性和波长选择决定实验可比性；

功率稳定性： 功率稳定性描述光源输出随时间的漂移和波动。长时间扫描和弱信号测量尤其需要记录功率变化；

光纤耦合： 光纤耦合将光源输出稳定传输到样品或仪器接口。耦合效率受光斑、数值孔径、偏振和连接状态影响；

外部调制： 外部调制通过TTL、模拟信号或机械调制控制光源输出。它用于锁相检测、瞬态响应和同步扫描；

热管理： 热管理用于控制光源芯片、驱动器或样品因光照产生的温升。温度变化会改变输出功率、波长和样品状态；

波长准确度： 波长准确度决定设定波长与实际输出波长的一致性。光谱响应和激发谱测量需要定期进行波长校准；

光谱带宽： 光谱带宽描述输出光在波长上的宽度。窄带输出利于波长选择性测量，宽带输出则适合白光或连续谱应用；

光源校准：光源校准用于确认输出波长、功率和稳定性。多波长测试和定量光谱分析应记录校准方法与校准日期。

常见问题

连续半导体光源 Stea是连续半导体光源，用于提供连续光输出，可与光谱仪、光纤系统和样品测试平台耦合。理解该设备时，重点关注连续光源、功率稳定性、光纤耦合、外部调制、热管理等概念。稳态光谱、光电响应和自动化测试平台需要稳定、低维护、易触发的连续半导体光源。

1. 问：连续半导体光源 Stea是什么设备，主要解决什么测试问题？

答：Stea是连续半导体光源，用于稳态光谱、光电响应、量子效率、照明和需要稳定连续激发的实验。提供连续光输出，可与光谱仪、光纤系统和样品测试平台耦合。

2. 问：连续半导体光源 Stea在当前科研热点中主要关注哪些数据？

答：稳态光谱、光电响应和自动化测试平台需要稳定、低维护、易触发的连续半导体光源。数据阅读时建议把连续光源、功率稳定性、光纤耦合与连续光源条件对应起来；若涉及外部调制或热管理，还应记录校准状态、空白/对照结果和采集窗口，便于不同批次结果比较。

3. 问：连续光源在该设备测试中如何定义和使用？

答：连续光源提供时间上连续的光输出，常用于稳态光谱、PLQY、光电响应和照明测试。其稳定性和波长选择决定实验可比性。在连续半导体光源 Stea相关实验中，该术语通常用于限定测试对象、信号来源或结果判读边界，需要与样品结构、实验条件和原始记录一起说明。

4. 问：功率稳定性和光纤耦合会如何影响实验结果？

答：功率稳定性描述光源输出随时间的漂移和波动。长时间扫描和弱信号测量尤其需要记录功率变化。光纤耦合将光源输出稳定传输到样品或仪器接口。耦合效率受光斑、数值孔径、偏振和连接状态影响。两者共同影响结果判读，不能只比较最终数值。

5. 问：开展连续半导体光源测试前，哪些条件必须提前确认？

答：应确认样品形态、目标变量、环境条件、连接或耦合方式、校准记录和数据输出格式。对于连续半导体光源 Stea，还需重点核对外部调制、热管理以及仪器状态是否稳定。

6. 问：如何提高连续半导体光源 Stea数据的重复性？

答：建议固定样品制备批次、装样方式、光路或电学连接、采集参数和数据处理流程；同时保留空白、对照和重复测量结果，避免只用单次数据支撑结论。

7. 问：外部调制相关结果为什么容易误判？

答：外部调制通过TTL、模拟信号或机械调制控制光源输出。它用于锁相检测、瞬态响应和同步扫描。误判常来自本底信号、环境漂移、连接状态、模型假设或样品状态变化，应通过空白测试、条件反转和重复采集排查。

8. 问：围绕热管理，怎样设计更容易复核的实验？

答：先固定连续光源相关基础条件，再只改变一个目标变量；若结果依赖模型，应报告模型假设、拟合残差和参数不确定度。

9. 问：研究人员解读连续半导体光源 Stea结果时，如何避免过度结论？

答：应先确认测试条件是否满足方法假设，再结合波长准确度、光谱带宽和独立表征交叉判断。单一数值、单张图或一次测试不足以支持完整机理结论。

10. 问：科研用户阅读连续半导体光源 Stea相关数据时，应优先关注哪些信息？

答：应优先关注连续光源、稳态激发、连续光源、功率稳定性和光纤耦合对应的测试条件、原始信号、校准方式和误差来源。只有这些信息完整，数据才便于复核和比较。

产品关键词：荧光量子效率,光电流/光电压,光电导,荧光发射光谱,光催化,激发谱,光探测,空间光路搭建,连续半导体光源,连续半导体光源 Stea,Stea,连续光源,稳态激发,光纤耦合,功率稳定,功率稳定性,外部调制,热管理,波长准确度,光谱带宽,光源校准,Stea测试原理,Stea常见问题,Stea数据分析

连续半导体光源 Stea
Stea系列是CW连续半导体光源，具有稳定性好、高输出功率、可耦合光纤等特点，可用于荧光量子效率、探测器响应、光电导等测试功能，常用于研究荧光粉、染料、有机半导体、钙钛矿、量子点等。
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