图片展示
中文
  • 中文
  • English

推荐设备

图文
详情

电致发光量子效率测量仪 HiYield-EL

电致发光量子效率测量仪HiYield-EL是东谱科技 HiOE 综合发光特性测量平台中的重要成员，用于对电致发光样品的发光特性进行精确测量。HiYield-EL系统能够以一流的检测精度对电致发光器件进行纵深测量，得到全面的绝对法测量的电致发光效率参数（量子效率EQE等）以及相关的电学、辐射度学、光度学、色度学等参数；同时该系统集成了稳定性测试模块，可以对器件的老化过程进行测试，且同时得到器件老化过程的全面信息，即涵盖了上述发光效率、电学、辐射度学、光度学、色度学等全面参数（通常的老化测试仪，仅对电流、电压和相对亮度进行测试）。HiYield系统可以应用于各种类型的电致发光器件。

附件下载

产品简介

HiYield-EL是一款电致发光器件绝对外量子效率与全参数测量平台，用于同步测量OLED、QLED、PeLED等器件的电学、光谱、光度和色度性能。系统主要用于建立可复现的器件效率与老化测量流程。该设备是东谱科技 HiOE 综合发光特性测量平台中的重要成员，用于对电致发光样品的发光特性进行精确测量。HiYield 系统能够以一流的检测精度对电致发光器件进行纵深测量，得到全面的绝对法测量的电致发光效率参数（量子效率EQE等）以及相关的电学、辐射度学、光度学、色度学等参数；同时该系统集成了稳定性测试模块，可以对器件的老化过程进行测试，且同时得到器件老化过程的全面信息，即涵盖了上述发光效率、电学、辐射度学、光度学、色度学等全面参数（通常的老化测试仪，仅对电流、电压和相对亮度进行测试），典型的包括电致发光效率/量子效率EQE、寿命测试、CIE、CRI、CCT、光谱响应、光谱功率分布、IV、JV、总光谱辐射通量、辐射通量、光通量、光效、光谱强度、峰值波长、FHWM等，广泛应用于各种类型的电致发光器件测量。

产品特点

□ 能够以一流的检测精度对电致发光器件进行纵深测量，得到全面的绝对法测量的电致发光效率参数（外量子效率等）以及相关的电学、辐射度学、光度学、色度学等参数；

□ 集成了稳定性测试模块，可以对器件的老化过程进行测试，且同时得到器件老化过程的全面信息，即涵盖了上述发光效率、电学、辐射度学、光度学、色度学等全面参数（通常的老化测试仪，仅对电流、电压和相对亮度进行测试）；

□ 由软件控制测试过程，操作便捷，图表和数据实时显示；

□ 可快速、可靠对样品的测试过程进行追踪；

□ 具有实时测量、预测量、定制测量、扫描测量、时间依赖测量等丰富的测量模式；

□ 光谱范围覆盖350-1050 nm，单次采集动态范围达到85,000:1，适配可见和近红外发光器件；

□ 支持电压/电流扫描、恒压/恒流单点及稳定性测量，可持续追踪不同老化时间下的全参数变化；

□ 光谱仪、积分球、源表和专用夹具模块化配置，支持多类OLED、QLED、PeLED及近红外器件。

产品功能

□ 效率参数：发光效率/外量子效率EQE、电流效率、功率效率等；

□ 电学参数：电压（V）、电流（I）、电流密度（J）、电功率（W）、电功率密度等；

□ 辐射度学：光谱功率分布、辐射通量、光通量、光视效能、峰值波长、主波长等；

□ 色度学：CIE 色度坐标、相关色温（CCT）、MK-1（mred）、显色指数（CRI）、RGB 颜色值等；

□ 稳定性测试。

■ 包含测量模式

√ 电压扫描（含分段扫描、循环扫描等）；

√ 电流扫描（含分段扫描、循环扫描等）；

√ 恒压单点测量；

√ 恒流单点测量；

√ 稳定性测量：不同老化时间下测量。

产品应用

□ 量子点发光二极管（QLED）

□ 有机发光二极管（OLED）

□ 发光二极管（LED）

□ 钙钛矿发光二极管（PeLED）

□ 其它各种类型的电致发光器件等

规格型号

绝对法电致发光特性测量系统

系列

HiYield-EL

光谱仪

*光谱范围

210-980nm

225-1000nm

350-1050nm

900-1700nm

探测器

制冷CCD

系统信噪比

1000:1

A/D分辨率

16/18 bit

光学分辨率

0.14-7.7 nm FWHM

动态范围

85000（典型）

杂散光

<0.08% at 600 nm;0.4% at 435 nm

源表

电压范围

-210V~210V

电流范围

-1.05A~1.05A

*分辨率

1pA / 100nV

10fA-10nV

积分球

*材料

Spectralon、PTFE、Spectraflect、BaSO4等

*内径

3.3 / 6 / 10 / 15 inch可选

*反射率

400至1500 nm，大于99%

＞97%

@600 nm 97-98%

＞95%

软件

测量模式

电压扫描（含分段扫描、循环扫描等）；

电流扫描（含分段扫描、循环扫描等）；

恒压单点测量；

恒流单点测量；

稳定性测量：不同老化时间下测量。

功能参数类别

效率参数（外量子效率、电流效率、功率效率等）；

电学参数：电压（V）、电流（I）、电流密度（J）、电功率（W）、电功率密度等；

辐射度学：光谱功率分布、辐射通量、光通量、光视效能、峰值波长、主波长等；

色度学：CIE色度坐标、相关色温（CCT）、MK-1（mred）、显色指数（CRI）、RGB颜色值等；

稳定性测试。

测量夹具

*定制夹具

根据客户样品封装设计夹具

*该产品或参数可根据客户需求灵活配置

测试案例

专业名词解析

绝对外量子效率EQE_EL： 电致发光绝对外量子效率（EQE_EL）表示注入电子最终转化为器件外部出射光子的比例。它同时受电荷平衡、辐射复合和光提取效率影响；

J-V-L： J-V-L同时记录电流密度、驱动电压与亮度关系，是分析发光器件开启、效率和工作区间的基础数据。有效面积和亮度测量几何需明确；

电流效率： 电流效率表示单位驱动电流产生的光通量，常用于显示和照明器件评价。它受光谱视觉响应权重影响，不能替代辐射度学意义上的EQE；

功率效率： 功率效率表示单位输入电功率产生的光通量。器件电压升高会降低功率效率，因此需结合电流效率和工作电压分析；

效率滚降： 效率滚降是发光器件效率在高电流密度或高亮度下下降的现象。其成因可能涉及激子湮灭、电荷失衡、漏电和热效应，需要结合电学、光谱和瞬态数据判断。

常见问题

HiYield-EL是一款电致发光器件绝对外量子效率与全参数测量平台，用于同步测量OLED、QLED、PeLED等器件的电学、光谱、光度和色度性能。理解HiYield-EL时，重点关注绝对外量子效率EQE_EL、J-V-L、电流效率、功率效率和效率滚降。效率滚降可能来自激子湮灭、电荷失衡、漏电、界面淬灭和热效应。应同时分析J-V-L、光谱、EQE及工作温度。

1. 问：HiYield-EL是什么设备，核心测量或功能是什么？

答：HiYield-EL是一款电致发光器件绝对外量子效率与全参数测量平台，用于同步测量OLED、QLED、PeLED等器件的电学、光谱、光度和色度性能。采用绝对法测量外量子效率，并同步获得电流效率、功率效率、电学、辐射度学、光度学和色度学参数。开展实验前，应先明确希望比较的指标、工作条件和数据输出，再据此设计HiYield-EL的测量流程。

2. 问：绝对外量子效率EQE_EL是什么？

答：电致发光绝对外量子效率（EQE_EL）表示注入电子最终转化为器件外部出射光子的比例。它同时受电荷平衡、辐射复合和光提取效率影响。

3. 问：如何正确理解J-V-L，常见误区是什么？

答：J-V-L同时记录电流密度、驱动电压与亮度关系，是分析发光器件开启、效率和工作区间的基础数据。有效面积和亮度测量几何需明确。常见误区是只比较最终数值，却忽略测试条件、校准状态或样品差异。使用HiYield-EL进行跨样品比较时，应保证关键条件一致并报告不确定度。

4. 问：高亮度下EQE下降通常意味着什么？

答：效率滚降可能来自激子湮灭、电荷失衡、漏电、界面淬灭和热效应。应同时分析J-V-L、光谱、EQE及工作温度。

5. 问：HiYield-EL测试中，哪些实验条件最影响结果？

答：器件效率测试需准确输入有效发光面积并完成光谱响应校正。还应记录与J-V-L和功率效率相关的设置，因为这些条件可能改变信号幅值、时间尺度、空间分布或计算结果。缺少条件记录时，即使曲线外观相似，也不宜直接比较。

6. 问：如何提高HiYield-EL数据的重复性和跨样品可比性？

答：效率滚降比较需统一亮度或电流密度范围。建议设置空白、标准样品或重复样品，固定采集设置、校准方式和数据处理流程，并保留原始数据与完整元数据。批量测试还应监测系统随时间的漂移。

7. 问：针对电流效率，怎样设计一组更容易复核的实验？

答：先固定样品制备和HiYield-EL的基础采集条件，再只改变一个目标变量；随后进行重复测量、条件反转或对照实验，并检查原始数据是否支持同一趋势。若电流效率的解释依赖模型，应同时报告模型假设、拟合残差和参数不确定度。

8. 问：功率效率为什么容易造成误判？如何排查？

答：功率效率表示单位输入电功率产生的光通量。器件电压升高会降低功率效率，因此需结合电流效率和工作电压分析。排查时可从仪器校准、背景与空白、信号强度依赖、时间或空间重复性四个方面入手。只有误差来源被控制后，HiYield-EL结果才适合用于机理讨论。

9. 问：效率滚降与当前研究热点有什么关系？

答：效率滚降是发光器件效率在高电流密度或高亮度下下降的现象。其成因可能涉及激子湮灭、电荷失衡、漏电和热效应，需要结合电学、光谱和瞬态数据判断。该问题连接HiYield-EL测量与当前科研中的性能比较、过程追踪或可靠性评价。报告结果时，应给出明确实验条件和判断边界，避免把相关性写成因果关系。

10. 问：研究人员解读HiYield-EL结果时，如何避免过度结论？

答：应先确认测试条件与方法假设，再结合电流效率、功率效率及独立表征交叉判断。单一数值、单张图谱或一次测试通常不足以支持完整机理结论；重复实验、对照组和原始数据质量比结论措辞更重要。

产品关键词：电致发光测试仪、电致发光量子效率测量系统、外量子效率测量系统、光谱功率分布（λ）测量系统、电功率密度测量系统、发光特性测试系统、电致发光量子效率测试系统、发光量子产率测量系统、光电特性测试、量子产率测量仪、积分球光谱测试仪、发光特性测量仪、IVLλ 、有机发光二极管综合性能测试系统、绝对量子效率测试仪、量子效率测试系统

Product Keywords: Electroluminescence tester, electroluminescence Quantum efficiency Measurement System, External Quantum Efficiency Measurement System, Spectral Power Distribution (λ) measurement system, electric power density measurement system, Luminescence characteristic test system, Electroluminescence quantum Efficiency Test System, Luminescence quantum Yield Measurement System, photoelectric characteristic test, quantum Yield measurement instrument, integrating sphere Spectrum tester, Luminescence characteristic measurement instrument, IVLλ, organic light-emitting diode comprehensive performance test system, absolute quantum efficiency tester, quantum efficiency test system


电致发光量子效率测量仪HiYield-EL


▍电致发光的含义

Electroluminescence is a phenomenon of certain materials such as semiconductors that causes the material to emit light due to a strong electric field or passage of an electric current.

电致发光的类型：

  • 有机EL
  • 无机EL
  • 钙钛矿EL
  • 量子点EL
  • 电泵浦激光
  • 场致发光
  • 电化学池发光等。





▍电致发光量子效率

  • 电致发光量子效率（Electroluminescence Quantum Efficiency, EQE）是衡量电致发光器件在电场作用下产生光子的效率的一个关键参数。它定义为器件在特定电流密度下发射出的光子数与注入到器件中的电子（或空穴）数之比。
  • 外量子效率（External Quantum Efficiency，EQE）：指器件工作时出射光子数与外部电路中注入器件的载流子数目之比。
  • 内量子效率（Internal Quantum Efficiency，IQE：指器件工作时内部辐射光子总数占注入电子数的比值。
  • （载流子注入与复合平衡且无辐射激子猝灭过程得到抑制的情况下）量子效率最大极限值为100%。在现实中，由于各种非辐射过程（如热量损失、激子湮灭、界面缺陷等），实际的量子效率往往低于理论最大值。


名称
符号单位单位符号

辐射能

Q, W

焦耳

J

辐射能密度

w

焦耳每立方米

J/m^3

辐射通量(辐射功率)

φ，P

瓦

W

辐射强度

I

瓦/球面度

W sr^(-1)

辐射度（辐射亮度）

L

瓦/（球面度.平方米）

W sr^(-1) m^(-2)

辐射出射度

M

瓦/平方米

W m^(-2)

辐照度

E

瓦/平方米

W m^(-2)



名称
符号单位单位符号

光量

Q

流明 秒

lm.s

光通量

φ

流明

lm

发光强度

I

坎德拉

cd

亮度

L

坎德拉/平方米

cd m^(-2)

光出射度

M

流明/平方米

lm m^(-2) 

照度

E

流明/平方米（勒克斯）

lm m^(-2) (lux)

光视效能

K

流明/瓦

lm W^(-1)

光视效率V--


▍色度学基础

  • 牛顿在他的《光学》著作中指出了颜色的主观属性。发光器件所发出来的光的颜色感觉就要依赖色度学所建立的参数来评估。
  • 从辐射度学到光度学的转化，只需要一类参数：颜色匹配函数
  • 三刺激值：X、Y、Z

  • 其中，X、Y、Z是三刺激值，P(λ)是刺激物的光谱功率分布，¯x, ¯y, ¯z CIE规定的颜色匹配函数。

  • 颜色具有主观属性，因而需要一套客观标准来描述颜色，客观标准的建立来源于CIE的统计实验。
  • 国际照明学会在1931年确认了一个CIE色度坐标图，利用一对二维平面坐标的x、y值来描述颜色：



NTSC (美国电视委员会)标准：

标准红: (0.67，0.33);

标准绿: (0.21，0.71);

标准蓝: (0.14，0.08);

纯正白: (0.33，0.33)。

电致发光量子效率测量仪 HiYield-EL
电致发光量子效率测量仪HiYield-EL是东谱科技 HiOE 综合发光特性测量平台中的重要成员，用于对电致发光样品的发光特性进行精确测量。HiYield-EL系统能够以一流的检测精度对电致发光器件进行纵深测量，得到全面的绝对法测量的电致发光效率参数（量子效率EQE等）以及相关的电学、辐射度学、光度学、色度学等参数；同时该系统集成了稳定性测试模块，可以对器件的老化过程进行测试，且同时得到器件老化过程的全面信息，即涵盖了上述发光效率、电学、辐射度学、光度学、色度学等全面参数（通常的老化测试仪，仅对电流、电压和相对亮度进行测试）。HiYield系统可以应用于各种类型的电致发光器件。
长按识别二维码查看详情
复制产品链接
长按图片保存/分享
询盘

咨询表单：

  • 请输入验证码

咨询内容：

你还没有添加任何产品

加入成功

电致发光量子效率测量仪 HiYield-EL

立即预约
询盘

咨询表单：

  • 请输入验证码

咨询内容：

你还没有添加任何产品

加入成功
图片展示

首页      产品中心      东谱实验室      解决方案      新闻资讯     关于我们      联系我们

电话：020-66834066 / 18565438025
邮箱：info@orientalspectra.com
网址：www.orientalspectra.com
地 址：广州市天河区白沙水路长兴创兴港5栋

Copyright @ Oriental Spectra All Rights Reserved

粤ICP备18054769号

图片展示
在线咨询

您好，请点击在线客服进行在线沟通！

联系方式
联系电话
020-66834066
上班时间
周一到周五
电子邮箱
info@orientalspectra.com
扫一扫二维码
二维码
添加工程师
添加微信好友，详细了解产品
使用企业微信
“扫一扫”加入群聊
复制成功！
添加微信好友，详细了解产品
我知道了