东谱科技光致发光量子效率测量系统HiYield-PL

HiYield-PL光致发光特性测量系统是东谱科技HiOE综合发光特性测量平台中的重要成员，与东谱科技的绝对法电致发光特性测量系统 HiYield-EL（请垂询销售专员）共同为行业提供了完善的发光样品测量方案。HiYield-PL 系统由一系列相应的测量组件组成，包括激发光源、单色仪、光谱测量模块等。利用该系统组件的分布特性，可以灵活搭建适用于不同类型样品的测量系统，也可以适应丰富的测量场景，如手套箱测量等。HiYield-PL测量系统具备以下主要功能： 

• 采用PL法，结合积分球，准确测量发光样品的效率参数、辐射度参数、色度参数等；
  
• 高灵敏度、高动态范围、高信噪比的测量；
  
• 多种测量模式可供选择：单激发波长量子效率、激发波长依赖量子效率、量子效率稳定性测试；
  
• 全自动一键测试。
  

HiYield-PL采用灵活的模块化设计，可适配多种测量场景。整机结构紧凑，可直接置于手套箱内进行氮气氛围下的测试。产品配备专业的研究级算法，确保精准获取光致发光量子效率（PLQY）数据。为提升效率与可靠性，可选配自动进样系统，有效减少人为操作失误，提高测量重复性。操作便捷性突出，软件支持全自动流程化操作，实现一键测量所有相关参数。

在功能参数方面，HiYield-PL能够全面测量：

效率参数：发光量子效率（PLQY）、内量子效率（IQE）、激发波长依赖量子效率、蓝光吸收比、衰减比率；

辐射度学参数：光谱功率分布、辐射通量、光子数、光通量、光视效能、峰值波长、中心波长等；

色度学参数：CIE色度坐标、相关色温（CCT）、显色指数（CRI）、RGB颜色值等；

时间依赖性衰减参数：PLQY随时间变化（PLQY-t）、峰值/中心波长随时间变化（λ-t）、辐射强度随时间变化（Radiance-t）、光通量随时间变化（Lumen-t）、衰减速率（K-t）、CIE色坐标随时间变化（CIE-t）、相关色温随时间变化（CCT-t）、显色指数随时间变化（CRI-t）等。

HiYield-PL 主要应用在有机金属复合物 、荧光探针 、染料敏化型PV材料 、OLED材料 、LED荧光粉 、薄膜、粉末、液体等类型的光致发光样品等方面。