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飞行时间法迁移率测量仪 FlyTOF

设备型号：FlyTOF S300

设备特点：该系统利用飞行时间法（time-of-flight，TOF）测量半导体材料的迁移率以及相关的光电特性。TOF迁移率测试方法直接由迁移率的定义发展而来。 相比于一些间接的迁移率测试方法，如空间电荷限制电流（SCLC）法等，TOF的方法被认为是最接近“真实”迁移率的一种测量方法，载流子迁移率测量值覆盖10^-9~10^6 cm^2/(V.s)。

开放测试：载流子迁移率（电子迁移率、空穴迁移率）

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▍ 设备简介

该系统利用飞行时间法（time-of-flight，TOF）测量半导体材料的迁移率以及相关的光电特性，广泛适用于各类半导体材料，如硅基半导体、第二代半导体、第三代宽带隙半导体、有机半导体、钙钛矿半导体、量子点半导体、二维材料半导体、金属-有机框架（MOF）、共价有机框架（COF）等。FlyTOF基于我司的MagicBox主机研制而成，配备便捷的上位机控制和数据测量软件，可助力客户进行快速、准确的测量。FlyTOF是东谱科技源头研发产品，最早于2012年为行业提供搭建式系统，并于2019年全新推出的业内首款自动化、集成化的飞行时间法迁移率测量商业化设备。


▍ 测试项目

1.飞行时间法瞬态光电流测量

2.半导体材料电子迁移率测量

3.半导体材料空穴迁移率测量


▍ 预约须知

1.设备测试条件：  

（1）激光器波长337nm、520nm；

（2）开放式夹具；

2.相关测试需求建议提前与工程师沟通：

（1）陈工：13809208932（同微信）南方区（广东省、广西壮族自治区、江西省、福建省、海南省、湖北省、河南省、湖南省、云南省、贵州省、重庆市、四川省、西藏自治区、港澳台）

（2）李工：13922130970（同微信）北方区（北京市、天津市、河北省、山西省、山东省、辽宁省、吉林省、黑龙江省、内蒙古自治区、上海市、江苏省、浙江省、安徽省、陕西省、宁夏回族自治区、甘肃省、青海省、新疆维吾尔自治区）


▍ 样品要求

1.有机半导体

2.量子点半导体

3.元素半导体（Si、Ge等）

4.金属-有机框架（MOF）

5.二维材料

6.宽带隙第三代半导体

7.钙钛矿材料

8.化合物半导体（InGaAs等）

9.共价有机框（COF）

10.其它半导体材料


▍ 数据展示





飞行时间法迁移率测量仪 FlyTOF
设备型号：FlyTOF S300

设备特点：该系统利用飞行时间法（time-of-flight，TOF）测量半导体材料的迁移率以及相关的光电特性。TOF迁移率测试方法直接由迁移率的定义发展而来。 相比于一些间接的迁移率测试方法，如空间电荷限制电流（SCLC）法等，TOF的方法被认为是最接近“真实”迁移率的一种测量方法，载流子迁移率测量值覆盖10^-9~10^6 cm^2/(V.s)。

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