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TCSPC为时域FLIM金标准,相量分析可处理<100光子低计数场景

作者:东谱科技 浏览: 发表时间:2026-07-02 15:33:45

TCSPC为时域FLIM金标准,相量分析可处理<100光子低计数场景

1 背景与问题

荧光成像已成为研究细胞结构和功能的不可或缺的手段。然而,传统的基于强度的荧光成像方法容易受到光谱串扰、探针浓度、光源强度波动以及光漂白的影响,导致定量分析困难。

为了解决这些问题,荧光寿命成像显微镜(FLIM)应运而生。荧光寿命是荧光团激发态动力学的独特“指纹”,它不依赖于荧光强度,因此能够提供关于分子微环境、蛋白质相互作用及代谢状态的精准信息。尽管FLIM技术潜力巨大,但在实际应用中仍面临诸多挑战,例如光子效率低、探针灵敏度不足以及在活细胞环境中实现高速成像的困难。此外,为了实现多靶标同时成像和超分辨观测,对激发光源的稳定性、脉冲宽度以及特定波长(如深紫外)覆盖范围提出了极高的要求。

2 核心方案

本综述文章详细探讨了FLIM技术的最新进展,重点分析了时域(tdFLIM)和频域(fdFLIM)两种核心技术。

在时域FLIM中,时间相关单光子计数(TCSPC)被认为是金标准方法。该方法通过记录脉冲激光激发后光子的到达时间,构建荧光衰减曲线。文章指出,TCSPC结合激光扫描共焦系统,能够提供卓越的对比度、高灵敏度以及无标记成像能力,已在临床和基础生物学研究中展现出巨大潜力。

此外,文章还重点介绍了相量分析方法。与传统的指数拟合相比,相量方法提供了一种快速且无需模型的替代方案,特别适用于处理多指数衰减和低光子计数(<100光子)的情况,极大地提高了数据分析的效率和鲁棒性。

图1.FLIM原理。时间域(td)和频率域(fd)模式下荧光寿命数据采集与分析的示意图。在tdFLIM中,每次脉冲激发后记录光子到达时间,以构建衰减直方图,该直方图可通过多指数曲线拟合进行分析,或转换至相量空间以实现无模型寿命提取。在fdFLIM通过高频强度调制测量发射信号,从而获得相位偏移和解调因子,这些因子同样可通过拟合或相量分析进行处理。

3 实验结果与分析

文章通过大量实验数据展示了FLIM在多色成像和生物传感中的应用能力。

3.1 荧光蛋白的寿命特征
研究者汇总了不同光谱范围内的荧光蛋白(FP)的寿命特征。如下表所示,通过工程化改造,荧光蛋白的寿命范围得到了显著扩展,这为在同一光谱窗口内利用寿命差异进行多靶标区分提供了基础。

3.2 定量生物传感
FLIM被广泛用于测量FRET效率以及环境敏感参数(如pH、Ca2+浓度、NADH状态)。文章指出,尽管FLIM生物传感器具有不受探针浓度和光漂白影响的优点,但其动态范围通常受限(<500 ps变化)。为了分辨这些细微变化,系统需要极高的时间分辨率和光子计数精度。在典型的光子预算(10^4-10^5光子/像素)下,寿命精度被限制在约100–300 ps。

图2 FLIM生物传感器。环境传感FLIM生物传感器的示意图(不包括FLIM-FRET)。这些生物传感器可监测活细胞中的多种细胞参数,包括:1.细胞周期状态;2.分子拥挤程度;3.细胞膜电位;4.温度;5.氧化还原状态(游离与蛋白质结合的NADH);6.蛋白质活性;7.离子浓度(如Ca²⁺、H⁺)

3.3 超分辨与多模态集成
文章还探讨了FLIM与超分辨技术(如STED、SMLM)的结合。例如,FLIM-STED理论上可以通过寿命差异实现多达8个不同靶标的成像,克服传统多色STED成像中染料漂白和光毒性大的问题。

4 产品介绍

PLED

皮秒脉冲二极管激光源

PLED是一款280 nm深紫外皮秒半导体光源,用于荧光寿命和时间分辨光谱实验中的深紫外激发。其主要用于以紧凑、易集成的方式覆盖常规可见光皮秒光源难以满足的波长范围。适用于宽带隙材料、紫外发光材料、分子跃迁和现有寿命系统扩展。深紫外激发对于宽禁带材料、紫外发光材料、特定分子跃迁和生物荧光研究具有重要价值,但可用皮秒光源相对有限。PLED以280 nm脉冲输出扩展TCSPC与时间分辨光谱能力,适合现有寿命系统升级。

4.1 技术特点

(1) 采用皮秒半导体光源架构,可作为TCSPC寿命测量和时间分辨荧光光谱的激发端;

(2) 脉宽达到≤200 ps,重复频率覆盖单次触发至40 MHz,具备稳定外触发和光纤耦合选件,12 h功率稳定度达到3% RMS级;

(3) 支持与Oriental Spectra、Edinburgh Instruments、HORIBA及PTI等光谱平台配套;

(4) 工作温度覆盖-10℃至45℃,存储温度覆盖-25℃至70℃,适合实验室日常运行与集成。

4.2 产品优势

(1) 紫外波长可直接激发宽带隙材料、紫外发光体系及特定分子跃迁,建立明确应用差异;

(2) 相较大型倍频激光方案,半导体光源更紧凑、维护量低,便于集成到现有寿命系统;

(3) 多品牌光谱仪兼容性使其适合作为深紫外寿命能力扩展模块,降低整机替换需求;

(4) 深紫外皮秒光源选择较少,PLED能够以较低部署复杂度补充宽带隙与深紫外激发能力。

综上所述,TCSPC结合相量分析法,在低光子计数(<100光子/像素)场景下仍能稳健提取寿命参数。东谱科技Pina系列皮秒激光器提供375-1550nm多波长、≤200 ps脉宽及80 MHz重复频率,兼容主流时间分辨系统。PLED 280nm深紫外光源可扩展宽带隙材料研究波长能力。配合HiLight的TCSPC模块,可为FLIM数据分析与硬件升级提供全链路支持。东谱科技致力于以高性能光源推动FLIM技术应用。

原文参考:Emerging trends of fluorescence lifetime imaging microscopy (FLIM): advances, challenges, and prospects

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