随着新型显示技术、固态照明及光电器件的快速发展，电致发光器件（如QLED、OLED、PeLED等）的性能优化与量产稳定性成为行业核心关注点。电致发光特性（如外量子效率、光谱分布、老化参数等）的精准测量是器件研发与质量控制的关键环节。然而，传统测试系统存在通道单一、功能局限、环境适应性差等问题，难以满足多器件并行测试、变温老化分析及复杂场景的定制化需求。

东谱科技作为光电测试领域的引领者，基于深厚的行业经验与技术创新，推出多通道电致发光特性测量系统ELLab。该系统以模块化设计为核心，支持多通道扩展与差异化功能配置，适配批量测量、手套箱集成、变温测试等高复杂度场景，为电致发光器件的研发、生产及老化研究提供高效、精准的一站式解决方案，助力用户突破效率与可靠性瓶颈。

多通道电致发光特性测量系统EL-Lab是东谱科技 HiOE 综合发光特性测量平台中的重要成员，与东谱科技的绝对法电致发光特性测量系统 HiYield 共同为行业提供了完善的电致发光的测量方案。该系统由一系列相应的分布测量组件组成，包括光电测量模块、亮度校准模块、光谱测量模块等。利用该系统组件的分布特性，可以灵活搭建适用于不同类型器件的测量系统。该系统可以便捷地扩展测量通道数量，且可以为不同的测试通道配备相同或者差异的测试功能，从而可以适应丰富的测量场景，如批量测量、手套箱测量、变温测量、老化测量等。

电致发光特性测量通过激发器件产生光信号，结合光电探测器与光谱分析技术，量化器件的发光效率、光谱特性及稳定性参数。EL-Lab系统通过模块化组件（光电测量、亮度校准、光谱测量）协同工作，实现光强、色度、电学参数的全维度同步采集与分析，为器件性能评估提供全面数据支撑。

（一）技术特点

(1) 多通道灵活扩展：

单模块支持24通道，可通过扩展实现多模块级联，满足从实验室单器件测试到产线批量检测的多样化需求。

各通道可独立配置相同或差异化测试功能（如EQE、IVL、光谱分析等），适配复杂实验设计。

(2) 全场景覆盖：

支持氛围手套箱集成，满足氧/水敏感器件（如钙钛矿器件）的原位测试需求。

变温测试范围广（50°C至150°C），可模拟极端环境下的器件性能变化。

集成老化测试功能，支持多通道长时间稳定性监测（如亮度衰减、效率漂移）。

(3) 高精度与高效性：

采用双光路校准技术，确保亮度与光谱测量的绝对精度（±1%）。

并行数据采集技术大幅提升测试效率，适用于产线快速筛查与科研多参数对比。

（二）技术优势

(1) 模块化设计：用户可根据需求自由搭配光电测量、光谱分析、老化监控等模块，构建定制化测试平台。

(2) 环境兼容性：适配手套箱、温控腔体等多种外设，解决敏感器件测试的环境限制问题。

(3) 智能化分析：内置软件一键生成IVL曲线、CIE色坐标、老化趋势报告，支持数据多维对比与导出。