随着半导体材料与光电器件（如OLED、钙钛矿发光二极管PeLED、有机光伏OPV、异质结叠层电池等）的快速发展，研发过程中对器件电学与光电特性的多维动态分析需求日益迫切。传统测试设备功能单一、操作复杂，难以满足复杂器件在载流子动力学、界面特性、瞬态响应等方面的综合研究需求。

东谱科技基于多年技术积累，推出全新一代多功能光电器件测量系统UltraTran。该系统集成了十余种先进测试模块，覆盖从稳态到瞬态、从低频到高频的全维度光电特性分析，为半导体材料研发、光电器件性能优化及失效机理研究提供系统测试方案。

UltraTran是一款集成了多种光电测试功能的仪器设备，专门针对半导体材料和器件的电学与光电特性进行精确测量，尤其适用于发光（OLED、PeLED等）与光伏器件（OPV、晶硅PV、异质结叠层PV等。

（一）技术特点

(1) 全功能集成，覆盖多维测试场景：

电学特性分析：支持IV测试、阻抗谱（IS）、脉冲电压测试、深能级瞬态光谱（DLTS）。

瞬态响应研究：包含瞬态电致发光（TranEL）、电荷抽取（CE）、线性增压载流子测试（CELIV）、ON/OFF瞬态光电压/光电流（TPV/TPC）。

调制光谱技术：集成强度调制光电流谱（IMPS）、光电压谱（IMPV）、调制电致发光光谱（MES），支持频率域动态特性分析。

(2) 高精度与宽动态范围：

电流检测灵敏度低至pA级，电压分辨率达μV级，阻抗测量频率范围0.1Hz10MHz。

支持光强调制范围0.0015太阳光强，适配从弱光到强光的多场景测试需求。

(3) 自动化与高效性：

内置12通道自动切换模块，支持批量样品连续测试，单次全功能分析时间＜10分钟。

软件一键生成综合报告，包括载流子寿命、陷阱密度、界面复合速率等关键参数。

（二）技术特点及性能参数

核心功能模块：

(1) 基础测试功能

电光转换器件选配与光电转换器件选配

功能概述：支持对电光和光电转换器件的选配测试，能够精确评估器件在不同工作条件下的性能表现。

斜坡电压电流测试（RampIV）、阶梯电压电流测试（StepIV）和脉冲电压电流测试（PulseIV）

功能概述：这些测试模式使得用户能够以不同的电学激励方式对样品进行扫描，从而获得关于样品在不同激励下的电学性质。Ramp-IV以连续的方式提供电压扫描，适用于捕捉材料响应的连贯变化；Step-IV则以逐步阶梯的方式提供电压，适合观察材料在不同电压阶跃下的稳态行为；而Pulse-IV通过短时的电压脉冲，允许研究器件的动力学IV特性，也可以有效减少器件的热阻，增加器件的最大注入电流。

(2) 瞬态特性测试

开关瞬态光电流（onoffTPC）与开关瞬态光电压（onoffTPV）

功能概述：测量器件在开关操作下的瞬态光电流和光电压变化，揭示其响应速度和动态性能。

暗注入瞬态特性测试（DIT）

功能概述：在无光照条件下，分析器件内部载流子的注入和复合过程，获取深能级缺陷等信息。

深能级瞬态谱（DLTS）

功能概述：通过监测器件在不同偏压和温度下的电容变化，确定深能级缺陷的能级位置和浓度。

(3) 电荷抽取测试

暗态线性增压电荷抽取测试（DarkCELIV）与光态线性增压电荷抽取测试（PhotoCELIV）

功能概述：分别在暗态和光态下，通过线性增压的方式抽取器件内部的电荷，分析电荷的产生、传输和陷阱特性。

电荷抽取测试（CE）

功能概述：直接测量器件在特定条件下的电荷抽取能力，提供电荷量、抽取速度等参数。

(4) 阻抗与电容测试

阻抗谱测试（IS）与电容电压测试（CV）

功能概述：为设备增加了额外的维度，使其能够全面评估材料的阻抗和介电性能；阻抗谱测试用于分析器件在不同频率下的阻抗特性，揭示其电学和结构信息；电容电压测试则监测器件电容随电压的变化，获取能带结构和载流子浓度等信息。

(5) 光谱特性测试

强度调制光电流谱（IMPS）与强度调制光电压谱（IMVS）

功能概述：通过调制光照强度，测量器件产生的光电流或光电压谱，来探究材料对光强变化的频率响应。

电致发射谱（ELS）

功能概述：测量器件在电场作用下发射的光谱，了解其发光特性和载流子复合过程，研究材料的电致发光特性。

核心性能参数：