东谱科技电致发光测量仪 NovaLum

电致发光测量系统NovaLum是东谱科技HiOE稳态综合光电特性测量平台中的重要成员，用于对电致发光样品的性能进行精确测量。该系统包括IVL测试、器件寿命测试、空间角度分布测试等功能，可以便捷、快速地得到电致发光器件全面的性能参数，如电致发光效率（电流效率、功率效率、外量子效率等）、光度学、色度学、稳定性、发光角度分布等相关性能参数。该设备很好地解决了行业上：（1）利用分光辐射度计测试时，存在低亮度测试速度慢、高亮度过曝的问题，从而不能用于易老化器件的测试，也不适宜用于宽亮度范围的器件测试；（2）利用积分球系统测试时，无法得到准确的前向亮度参数，且高亮度时也存在过曝问题，不能对强发光样品进行测试等的问题。

• 可以得到准确的亮度，因而适宜OLED、钙钛矿LED、量子点LED、显示屏等面光源的测量；
  
• 配备自动化的角度分辨测试功能，可以快速得到样品发光的空间分布特性；
  
• 配备了稳定性测试功能，进行老化测试，具有宽的亮度检测范围（<1cd/m^2 ~999900 cd/m^2 ）；
  
• 可以进行各种环境的测试，如气体氛围、器件不封装转移测试等，同时可以实现手套箱内快速换样测试；
  
• 配备自动对焦和观察、自动位移、自动子器件切换等系统，可以极大地提升测试效率。
  

NovaLum提供多样化的扫描模式，包括电压扫描、电流扫描、角度扫描和时间扫描，并支持分段循环电流、电压扫描以深入研究器件迟滞效应等特性。同时，具备实时单点测量功能，便于灵活判断器件工作状态；提供两线及四线测量选项，其中四线模式可显著提升电流电压测量精度。此外，产品支持通过软件自动选择测量子器件、智能调节积分时间以避免低亮度信号缺失或高亮度过曝问题，并配备可视化实时观察及位移系统（可在软件中观察器件表面发光并进行对焦操作）。测量数据全程自动保存，有效防止丢失。

NovaLum应用范围广泛，适用于量子点发光二极管（QLED）、有机发光二极管（OLED）、发光二极管（LED）、钙钛矿发光二极管（PeLED）及其他各类电致发光器件的研究与测试。