东谱科技多通道电致发光特性测量系统EL-Lab

HiYield-EL电致发光量子效率测量系统是东谱科技 HiOE 综合发光特性测量平台中的重要成员，用于对电致发光样品的发光特性进行精确测量。HiYield-EL系统能够以一流的检测精度对电致发光器件进行纵深测量，得到全面的绝对法测量的电致发光效率参数（外量子效率等）以及相关的电学、辐射度学、光度学、色度学等参数；同时该系统集成了稳定性测试模块，可以对器件的老化过程进行测试，且同时得到器件老化过程的全面信息，即涵盖了上述发光效率、电学、辐射度学、光度学、色度学等全面参数（通常的老化测试仪，仅对电流、电压和相对亮度进行测试）。另外，该系统支持拓展PLQY测试模块，具备： 

• 采用PL法，结合积分球，准确测量发光样品的效率参数、辐射度参数、色度 参数等；
  
• 高灵敏度、高动态范围、高信噪比的测量；
  
• 多种测量模式可供选 择：单激发波长量子效率、激发波长依赖量子效率、量子效率稳定性测试；
  
• 全自动一键测试。  
  

HiYield-EL核心优势在于多通道批量测量能力，显著提升测试效率。整机设计紧凑，可置于手套箱内进行特定氛围下的测试。它支持长时间、多器件的并行老化测试，并兼容宽温度范围的变温测试（变温测试通道为选配配置），能够全面满足电致发光器件的各项测试需求。

在测试通道配置上灵活可定制：提供总计6个测试通道，其中包括5个IVL测试通道、1个光谱测试通道和5个老化（稳定性）测试通道，用户可根据具体需求定制不同数量和功能的通道组合。

HiYield-EL功能参数覆盖全面，可精准测量：

发光效率参数：外量子效率(EQE)、电流效率、功率效率等；

电学参数：电压(V)、电流(I)、电流密度(J)、电功率密度等；

辐射度学参数：光谱功率分布、辐射通量、光视效能、主波长等；

光度学参数：亮度、光通量等；

色度学参数：CIE色度坐标、相关色温(CCT)、MK-1、显色指数(CRI)等；

器件老化参数：记录不同老化时间点下的上述所有参数变化；

变温测量参数：在温度变化条件下获取器件的性能数据。

HiYield-EL广泛应用于各类电致发光器件的研发与测试，主要面向：

量子点发光二极管（QLED）

有机发光二极管（OLED）

发光二极管（LED）

钙钛矿发光二极管（PeLED）

以及其他各种类型的电致发光器件。