FlyTOF 飞行时间法迁移率测量系统

作者：东谱科技浏览：发表时间：2021-01-18 09:00:00

FlyTOF

飞行时间法迁移率测量系统

Time-of-Flight Mobility Measurement System

一、系统介绍

FlyTOF飞行时间法迁移率测量系统是东谱科技HiTran瞬态综合光电特性测量平台中的重要成员。该系统利用飞行时间法(time-of-flight, TOF)测量半导体材料的迁移率以及相关的光电特性，广泛适用于各类半导体材料，如有机半导体、金属-有机框架（metal-organic framework, MOF）、共价有机框架（covalent organic framework, COF）、钙钛矿材料等。FlyTOF系统是一款高度集成化的光电测试系统，配备便捷的上位机控制和数据测量软件，可助力客户进行快速、准确的测量。

二、产品特点

专业的信号调教，电磁兼容噪声小；
软件自动控制，测试快速便捷；
快速换样装置，惰性气体氛围测试；
可实现宽温度范围的变温测试（选配）；
可灵活耦合各种类型的激发光源。
带位移功能，方便对同一基片上的不同器件进行测试；
所有光路均置于封闭暗箱内，无外界光源影响。

三、系统典型参数表

^*该产品或参数可根据客户需求灵活配置。

测试示例1

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