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绝对法电致发光特性测量系统

作者:东谱科技 浏览: 发表时间:2020-11-11 17:00:00

     我司绝对法电致发光特性系统HiYiled完成交付。HiYiled系统的功能实用性,操作便利性等优势得到用户的一致认可。



      HiYield绝对法电致发光特性测量系统是东谱科技UltralLum综合发光特性测量平台中的重要成员,用于对电致发光样品的发光特性进行精确测量。HiYield系统能够以一流的检测精度对电致发光器件进行纵深测量,得到全面的绝对法测量的电致发光效率参数以及相关的辐射度学、光度学、色度学等参数。该系统配有功能丰富、操作便捷的测试软件,具有实时测量、预测量、定制测量、扫描测量等丰富的测量模式,图表和数据实时显示,可以快速、可靠对样品的测试过程进行追踪。HiYield系统可以应用于量子点发光二极管(QLED)、有机发光二极管(OLED)、发光二极管(LED)、钙钛矿发光二极管(PeLED)等各种类型的电致发光器件。



      

   更多产品资料可转到电致发光测量系统介绍页面或咨询我们的工程师020-66834066。

绝对法电致发光特性测量系统
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